[发明专利]一种超低频高压试验设备

说明书

本发明提供的一种超低频高压试验设备，包括正负直流源、逆变电路、谐振回路、变压器回路、倍压整流电路和正负电流控制电路，所述正负直流源、逆变电路、谐振回路、变压器回路、倍压整流电路和正负电流控制电路依次串联连接形成一正弦电路回路。本发明具备试验功率要求低，设备体积小，测试电缆的容量大，长度长等优点，由于其信号为交变信号，无残余电荷存在电缆绝缘层中，优于直流耐压试验。本发明便携、无残余电荷的优点满足现场操作人员使用需求，而这也正是工频耐压、变频串联谐振耐压、直流耐压所不具备的。

技术领域

本发明属于电气控制系统技术领域，尤其涉及一种超低频高压试验设备，主要应用于10kV交联聚乙烯电力电缆的耐压试验。

背景技术

一般电缆耐压试验时，往往需要用到直流试验或变频串联谐振耐压试验。然而，直流试验容易有残余电荷存在于电缆绝缘层中。变频串联谐振耐压试验由于其需要很多电抗器组合，并且需要大功率的电源支撑，因此现场使用起来对电缆易造成一定程度的损伤，或者耗费极大人力、物力，极不方便。

综上，现有技术中电缆耐压试验设备存在以下缺点：

1)串联谐振耐压试验，接线极其复杂，设备极其笨重，长距离电缆为满足谐振频率在20-300Hz，现场需要多名测试人员配合多台电抗器。

2)串联谐振耐压试验因为串联谐振的频率较高，需要的功率很大，有时甚至需要一台小型变压器才能满足测试。

3)直流耐压试验，有残余空间电荷存在电缆绝缘层中，无法释放干净，送电运行时易造成电场叠加，造成电缆击穿。

发明内容

本发明针对现有技术存在的不足，提供一种试验功率要求低、设备体积小、测试容量长的超低频高压试验设备。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：

一种超低频高压试验设备，包括正负直流源、逆变电路、谐振回路、变压器回路、倍压整流电路和正负电流控制电路，所述正负直流源、逆变电路、谐振回路、变压器回路、倍压整流电路和正负电流控制电路依次串联连接形成一正弦电路回路。

优选地，上述超低频高压试验设备，还包括时间控制电路，所述正负直流源、逆变电路、谐振回路、变压器回路、倍压整流电路、正负电流控制电路和时间控制电路依次串联连接形成一正弦电路回路。

优选地，上述超低频高压试验设备，所述逆变电路包括第一逆变器、第二逆变器，所述第一逆变器、第二逆变器并联设置。

优选地，上述超低频高压试验设备，所述谐振回路包括第一谐振回路和第二谐振回路，所述第一谐振回路和第二谐振回路并联设置。

优选地，上述超低频高压试验设备，所述变压器回路包括第一变压器、第二变压器，所述第一变压器和第二变压器并联设置。

优选地，上述超低频高压试验设备，所述倍压整流电路包括第一倍压整流电路、第二倍压整流电路，所述第一倍压整流电路和第二倍压整流电路并联设置。

优选地，上述超低频高压试验设备，所述正负电流控制电路包括正电流控制电路、负电流控制电路，所述正电流控制电路和负电流控制电路并联设置。

优选地，上述超低频高压试验设备，所述正负直流源、第一逆变器、第一谐振回路、第一变压器、第一倍压整流电路、正电流控制电路、时间控制电路依次串联连接形成第一正弦电路回路。

优选地，上述超低频高压试验设备，所述正负直流源、第二逆变器、第二谐振回路、第二变压器、第二倍压整流电路、负电流控制电路、时间控制电路依次串联连接形成第二正弦电路回路。

优选地，上述超低频高压试验设备，所述第一正弦电路回路与第二正弦电路回路并联连接。