[发明专利]一种集成的线序测试装置和方法

权利要求书

1.一种集成的线序测试装置，其特征在于，包括主机和副机，所述主机用于通过每一个接线端口向所述副机发送测试信号，并实时检测所述副机与所述测试信号对应的反馈信号；所述主机包括主控模块、模数转换模块、端口选择模块和接线端口模块，所述端口选择模块包括第一端口选择子模块和第二端口选择子模块，所述第一端口选择子模块分别与所述模数转换模块、所述主控模块和所述接线端口模块连接，所述第二端口选择子模块分别与所述主控模块和所述接线端口模块连接；所述副机包括至少2条并联连接的环回线路，每条所述环回线路上均设置有连接端口，所述接线端口模块上设置有与所述环回线路条数相等的接线端口，所述连接端口与所述接线端口连接；每条所述环回线路均包括半导体元件和电阻，所述半导体元件与所述电阻并联连接且并联连接后与所述连接端口连接。

2.根据权利要求1所述的集成的线序测试装置，其特征在于，所述第一端口选择子模块通过电平检测通道与所述接线端口模块连接，所述第二端口选择子模块通过接地通道与所述接线端口模块连接。

3.根据权利要求1所述的集成的线序测试装置，其特征在于，所述第一端口选择子模块与所述模数转换模块连接之间还连接有基准电阻和基准电压源。

4.根据权利要求1所述的集成的线序测试装置，其特征在于，所述第一端口选择子模块和所述第二端口选择子模块上均设置有开关元件，所述开关元件为八选一模拟开关、三极管、MOS管或继电器。

5.根据权利要求4所述的集成的线序测试装置，其特征在于，所述主机的电阻和所述副机的电阻均大于所述端口选择模块中开关元件的导通电阻。

6.根据权利要求1所述的集成的线序测试装置，其特征在于，所述模数转换模块与所述主控模块连接，所述模数转换模块为ADC模块或压频转换模块。

7.根据权利要求1所述的集成的线序测试装置，其特征在于，所述半导体元件为二极管。

8.根据权利要求1所述的集成的线序测试装置，其特征在于，还包括用于显示测试结果的显示模块，所述显示模块与所述主控模块连接。

9.一种集成的线序测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

将待测线缆连接在如权利要求1-8任意一项所述的集成的线序测试装置上，且所述待测线缆的第一连接端与主机的接线端口连接，所述待测线缆的第二连接端与副机的连接端口连接；

将所述待测线缆与所述主机中第一端口选择子模块连接的一个接线端口作为检测端口，且对所述检测端口选通，对第二端口选择子模块中除检测端口外的所有接线端口逐一选通后，检测所述检测端口的电压；

根据所述电压判断所述检测端口与对应所述第二端口选择子模块中选通的接线端口和所述副机的接线情况。

10.根据权利要求9所述的集成的线序测试方法，其特征在于，根据所述电压判断所述检测端口与对应所述第二端口选择子模块中选通的接线端口和所述副机的接线情况包括：

若所述检测端口的电压为0，则所述检测端口与对应所述第二端口选择子模块中选通的接线端口短接；

若所述第二端口选择子模块逐一选通所述连接端口过程中，检测所述检测端口的电压均为基准电压源的电压，则所述检测端口与所述副机的连接端口之间的接线为断路；

若所述检测端口的电压大于0且小于基准电压源的电压，则所述检测端口与所述副机的连接端口之间的接线为正常接线或交叉接线。