[发明专利]一种CPU性能测试探针清洁方法

说明书

本发明涉及一种CPU性能测试探针清洁方法，包括：步骤一：对待清洗探针进行超声波脱脂去油处理3‑5mi n，脱脂去油药剂的PH为7.0‑8.5；步骤二：用32‑45℃的温水进行冲洗；步骤三：蒸馏水冲洗；步骤四：将探针置于清洗槽内，在清洗槽内加入清洗药剂进行超声波振荡清洗，清洗时长为5‑8mi n，其中，清洗药剂包含活性剂；步骤五：用温度为室温的清洗水进行多道水洗；步骤六：对水洗完成的探针进行干燥处理。通过依次进行脱脂去油处理、温水冲洗、蒸馏水冲洗、超声波振荡清洗和多道水洗过程对探针进行彻底清洗，最后对探针进行快速干燥处理，使得探针表面达到洁净干燥的状态，避免探针生锈腐蚀，延长探针的使用寿命。

技术领域

本发明涉及CPU检测技术领域，特别涉及一种CPU性能测试探针清洁方法。

背景技术

CPU在加工完成后，为保证CPU产品质量和性能稳定性，需要对CPU进行测试，目前CPU测试过程为：将待测CPU放置在测试设备上，测试设备驱动测试探针与CPU上的引脚相插接，再通过相应的测试软件运行测试程序测试CPU的性能。由于测试探针需要经常与CPU相接触，长期使用后在探针的外表面会因形成氧化层、沾污油污、杂质、锡渣等影响测试性能，因此需要将测试探针定时拆卸清洗。现有的清洗方法在清洗完成后会有清洗药剂残留在测试探针表面，导致测试探针易出现生锈腐蚀等情况，缩短测试探针的使用寿命。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供了一种CPU性能测试探针清洁方法，具有减少药剂残留、提高清洁效果、延长使用寿命的优点。

为达到上述目的，本发明的技术方案如下：

一种CPU性能测试探针清洁方法，包括：

步骤一：对待清洗探针进行超声波脱脂去油处理3-5min，脱脂去油药剂的PH为7.0-8.5；

步骤二：用32-45℃的温水进行冲洗，冲洗时长为5-10s；

步骤三：用蒸馏水冲洗3-5s使探针温度下降至室温；

步骤四：将探针置于清洗槽内，在清洗槽内加入清洗药剂进行超声波振荡清洗，清洗时长为5-8min，其中，清洗药剂包含活性剂；

步骤五：用温度为室温的清洗水进行多道水洗；

步骤六：对水洗完成的探针进行干燥处理。

实现上述技术方案，首先将探针放置在超声波清洗机中进行脱脂去油处理，去除探针上沾污的油污类异物，并对杂质、锡渣等异物进行清洗，通过弱酸性的脱脂去油药剂能够中和呈弱酸性的油脂，使得清洗效果更佳，再用温水对探针进行冲洗，去除残留在探针表面的脱脂去油药剂和油脂，同时温水的温度可以较好的避免温度过低导致油脂凝结，再用蒸馏水冲洗后使探针降至室温，减少探针的温度对后续清洗效果的影响，同时通过蒸馏水能够进一步去除探针表面的杂质，接着通过清洗药剂进行超声波振荡清洗，去除探针表面的氧化层，使探针表面重新恢复至洁净状态，再通过多道水洗过程对探针进行彻底清洗，去除残留在探针表面的杂质和清洗药剂，最后对探针进行快速干燥处理，使得探针表面达到洁净干燥的状态，避免探针生锈腐蚀，延长探针的使用寿命。

作为本发明的一种优选方案，所述步骤一中超声波脱脂去油处理时长为3.5min，脱脂去油药剂的PH为7.5-8。

作为本发明的一种优选方案，所述步骤一中所述脱脂去油药剂为浓度为2-3％的脱脂剂AS-209的水溶液。

作为本发明的一种优选方案，所述步骤二中温水的温度为35-38℃，冲洗时长为6-8s。

作为本发明的一种优选方案，所述步骤四中所述活性剂包括阴离子型表面活性剂和/或非离子型表面活性剂。

作为本发明的一种优选方案，所述步骤四中所述清洗药剂包括质量百分比为3-6％的阴离子型表面活性剂和质量百分比为8-12％的非离子型表面活性剂。