[发明专利]一种应用于SERF原子磁强计实验装置的双层圆柱体均匀加热烤箱结构有效

专利信息
申请号: 202110341756.2 申请日: 2021-03-30
公开(公告)号: CN113093066B 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 陆吉玺;蒋硕;马丹跃;王坤;李思然;全伟 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01R33/032 分类号: G01R33/032;F27D7/06
代理公司: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 代理人: 吴小灿;朱亚娜
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 应用于 serf 原子 磁强计 实验 装置 双层 圆柱体 均匀 加热 烤箱 结构
【权利要求书】:

1.一种应用于SERF原子磁强计实验装置的双层圆柱体均匀加热烤箱结构,其特征在于,包括将外层中空圆柱体与内层中空圆柱体同轴套装在加热底盖与加热顶盖之间的双层圆柱体结构,在所述外层中空圆柱体与内层中空圆柱体之间的空隙层填充纳米多孔二氧化硅隔热材料,在所述内层中空圆柱体的圆柱形中空内壁贴满加热膜使得位于所述圆柱形中空内SERF原子磁强计实验装置球形气室的敏感轴y到所述加热膜的距离在xz平面内具有中心对称;

所述x为所述SERF原子磁强计实验装置球形气室的检测轴x,所述z为所述SERF原子磁强计实验装置球形气室的抽运轴z,所述x、所述y和所述z构成所述SERF原子磁强计实验装置测量的直角坐标系;

所述加热底盖的中心设置有底孔,所述底孔用于安放所述SERF原子磁强计实验装置球形气室的气室泡柄;

所述双层圆柱体结构的侧面开设有用于形成检测轴x的第一对穿的检测光通光孔,和用于形成抽运轴z的第二对穿的抽运光通光孔;

所述抽运光通光孔大于所述检测光通光孔;

所述加热底盖与加热顶盖上均设置有外层连接螺栓阵列和内层连接螺栓阵列,所述外层连接螺栓连接所述外层中空圆柱体的端面,所述内层连接螺栓连接所述内层中空圆柱体的端面;

所述加热底盖与加热顶盖均包括嵌入圆台和从所述嵌入圆台周面径向外延而成的圆环边,所述圆环边覆盖所述外层中空圆柱体的端面,所述嵌入圆台覆盖所述圆柱形中空的端面和所述空隙层的端面。

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