[发明专利]纳秒刀校准方法及装置

权利要求书

1.一种纳秒刀校准方法，其特征在于，包括：

利用电场探头获取目标容器内介质的电场数据；所述电场数据由所述纳秒刀发送至所述目标容器内；

根据所述电场数据生成所述纳秒刀的电场校准参数；

根据所述电场校准参数和预设校准范围确定纳秒刀校准结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，利用电场探头获取目标容器内介质的电场数据，包括：

利用电场探头分批次获取目标容器内介质的电场数据；每批次的电场探头在所述目标容器中的位置不同。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述电场校准参数包括电场强度参数、电场波形参数和电场比例参数；

根据所述电场校准参数和预设校准范围确定纳秒刀校准结果，包括：

若所述电场强度参数、电场波形参数或电场比例参数不满足所述预设校准范围，则确定校准结果为所述纳秒刀未通过校准；

若所述电场强度参数、电场波形参数和电场比例参数满足所述预设校准范围，则确定校准结果为所述纳秒刀通过校准。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述电场数据生成所述纳秒刀的电场校准参数，包括：

计算各批次电场强度参数满足预设场强范围的电场探头的第一个数；

根据所述第一个数和各批次电场探头的总个数确定电场比例参数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标容器表面设有第一固定装置和第二固定装置；

所述第一固定装置用于固定所述纳秒刀；

所述第二固定装置用于固定所述电场探头。

6.一种纳秒刀校准装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于利用电场探头获取目标容器内介质的电场数据；所述电场数据由所述纳秒刀发送至所述目标容器内；

参数模块，用于根据所述电场数据生成所述纳秒刀的电场校准参数；

校准模块，用于根据所述电场校准参数和预设校准范围确定纳秒刀校准结果。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述电场校准参数包括电场强度参数、电场波形参数和电场比例参数；所述校准模块，具体用于：

若所述电场强度参数、电场波形参数或电场比例参数不满足所述预设校准范围，则确定校准结果为所述纳秒刀未通过校准；

若所述电场强度参数、电场波形参数和电场比例参数满足所述预设校准范围，则确定校准结果为所述纳秒刀通过校准。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述参数模块，具体用于：

计算各批次电场强度参数满足预设场强范围的电场探头的第一个数；

根据所述第一个数和各批次电场探头的总个数确定电场比例参数。

9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至5任一所述纳秒刀校准方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有执行权利要求1至5任一所述纳秒刀校准方法的计算机程序。