[发明专利]一种光纤强度的测试方法

权利要求书

1.一种光纤强度的测试方法，包括底部外壁四角焊接有支腿的底板（1），所述底板（1）的两侧外壁均焊接有侧板（2），其特征在于，所述侧板（2）的相对一侧外壁焊接有同一个台板（23），且台板（23）的中端固定安装有限位端板（36），所述限位端板（36）的两端分别滑动连接有固定端块（15）以及拉动块（4），且固定端块（15）和拉动块（4）的顶端均开设有等距离分布的弧底槽口（28）以及弧底短槽（29），所述弧底槽口（28）与弧底短槽（29）之间交错分布，所述固定端块（15）和拉动块（4）的顶端均卡接有压块（13），且压块（13）的底部外壁分别设置有与弧底槽口（28）、弧底短槽（29）相适配的弧底插端（8）以及短插脚（14），所述压块（13）的四角均设置有吸附磁脚（5），且固定端块（15）和拉动块（4）的顶部外壁四角均开设有与吸附磁脚（5）相适配的插槽（27），所述固定端块（15）和拉动块（4）的相对一端均开设有预留槽（26），所述固定端块（15）与侧板（2）的相对一侧通过螺钉固定有拉力传感器（16），且侧板（2）靠近拉力传感器（16）的一侧通过螺栓固定有显示器（17），所述台板（23）的中端两侧安装有调温机构，所述弧底槽口（28）、弧底短槽（29）与弧底插端（8）、短插脚（14）的相对一侧均设置有等距离分布的梯形附块（25）；

所述调温机构包括分别焊接于台板（23）顶部外壁一侧的安装立板（22），且安装立板（22）的相对一侧外壁均通过螺栓固定有水平设置的电动伸缩杆（34）；

两个所述电动伸缩杆（34）的延伸杆端部均通过螺栓固定有降温半铜管（35），且两个降温半铜管（35）的外侧两端均通过螺栓固定有半导体制冷器（33）；

两个所述降温半铜管（35）的相对一侧分别设置有凸条杆（38）以及相适配的条形凹槽（37），且其中一个降温半铜管（35）的一侧内壁通过螺钉固定有温度传感器（11）；

所述侧板（2）的顶部外壁通过螺栓固定有同一个顶架（7），且顶架（7）的一侧通过螺钉固定有等距离倾斜设置的固定摄像头（12）；

所述顶架（7）顶部一侧开设有限位槽口，且限位槽口的内壁滑动连接有L形安装滑片（9），所述L形安装滑片（9）的一侧通过螺钉固定有移动摄像头（10）；

所述侧板（2）的相对一侧通过轴承转动连接有螺纹柱杆（24），所述拉动块（4）的底部外壁焊接有驱动连板（3），且驱动连板（3）与螺纹柱杆（24）通过螺纹相连接，所述底板（1）的一侧通过轴承转动连接有传动杆（20），且传动杆（20）与螺纹柱杆（24）的相对一端分别键连接有相互啮合的从动锥形齿（18）以及驱动锥齿（19），所述传动杆（20）的底端焊接有转盘（21）；

所述方法，包括以下步骤：

步骤一：操作人员将待测试光纤的两端预留适当长度分别放在固定端块（15）、拉动块（4）的顶端，并放入相应的压块（13），利用弧底插端（8）、短插脚（14）分别与弧底槽口（28）、弧底短槽（29）相契合，对光纤两端进行固定处理；

步骤二：操作人员转动转盘（21），利用传动杆（20）、驱动锥齿（19）、从动锥形齿（18）的传动作用，带动螺纹柱杆（24）转动，从而利用驱动连板（3）推动拉动块（4），使光纤趋于绷直状态；紧接着，操作人员控制启动电动伸缩杆（34），推动降温半铜管（35）相闭合，并配合温度传感器（11），利用半导体制冷器（33）使光纤在低温下保持一段时间；

步骤三：完成后，操作人员控制关闭电动伸缩杆（34），将降温半铜管（35）收回，与此同时，操作人员继续转动转盘（21），通过拉动块（4）拉动光纤，直至光纤断裂，并通过拉力传感器（16）的数据以及固定摄像头（12）、移动摄像头（10），对光纤强度进行结合分析；重复上述步骤，测试不同低温下，光纤的强度。

2.根据权利要求1所述的一种光纤强度的测试方法，其特征在于，所述固定端块（15）靠近限位端板（36）的四角均安装设置有滑轮（32），且固定端块（15）与限位端板（36）的相对一侧分别固定安装有磁条一（30）以及磁条二（31），顶端所述磁条一（30）与对应所述磁条二（31）相对一侧磁极相同，底端所述磁条一（30）与对应所述磁条二（31）相对一侧磁极相反。

3.根据权利要求1所述的一种光纤强度的测试方法，其特征在于，所述L形安装滑片（9）与拉动块（4）的一侧通过螺栓固定有同一个U形杆（6），且U形杆（6）与顶架（7）、侧板（2）滑动连接。