[发明专利]一种基于图像特征匹配对齐的试卷批改方法在审

专利信息
申请号: 202110354541.4 申请日: 2021-04-01
公开(公告)号: CN113095187A 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 肖刚;杨超;周伟;陈立 申请(专利权)人: 杭州云梯科技有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/46;G06K9/62
代理公司: 合肥律众知识产权代理有限公司 34147 代理人: 侯克邦
地址: 310000 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 图像 特征 匹配 对齐 试卷 批改 方法
【权利要求书】:

1.一种基于图像特征匹配对齐的试卷批改方法,其特征在于,包括如下步骤S1至S6:

S1,获取待识别的原始试卷图像和目标试卷图像;

S2,利用图像提取算法,提取原始试卷图像和目标试卷图像的图像特征;

S3,对匹配点数设置阈值,利用匹配算法,对提取到的图像特征进行匹配,若低于阈值,输出两张图像不对应,否则输出相匹配的图像特征;

S4,通过相匹配的图像特征,利用迭代算法得到转换的单应性矩阵,通过对拍摄图像按照单应性矩阵进行变换,输出原始试卷图像到目标试卷图像的一个对齐图像;

S5,由于图像对齐变换的过程会增加部分图像,所述部分图像是按计算得到的一个固定像素值填充的,根据该像素值,将所述部分图像抠掉,达到对齐图像只保留采集的原始试卷图像的效果;

S6,在得到上述对齐图像之后,利用每个答案在目标试卷图像中的区域位置,在原始试卷图像上定位,将对应位置区域的手写字进行识别,最后与各个区域对应的标准答案进行匹配批改。

2.根据权利要求1所述的基于图像特征匹配对齐的试卷批改方法,其特征在于,所述步骤S2中,所述图像提取算法采用SIFT算法;其中,提取图像特征过程为:首先,搜索所有尺度上的图像位置,通过高斯微分函数来识别潜在的对于尺度和旋转不变的候选关键点;然后,在每个候选的位置上,通过一个拟合精细的模型来确定位置和尺度,同时关键点的选择依据于它们的稳定程度;接着,基于图像局部的梯度方向,分配给每个关键点位置一个或多个方向,所有后面的对图像数据的操作都相对于关键点的方向、尺度和位置进行变换;之后,在每个关键点周围的邻域内,在选定的尺度上测量图像局部的梯度;最后,输出特征向量。

3.根据权利要求2所述的基于图像特征匹配对齐的试卷批改方法,其特征在于,所述步骤S3中,所述匹配算法采用暴力匹配算法,通过比较两个图像特征的关键点描述符,并找到所述两个图像特征的共同之处。

4.根据权利要求3所述的基于图像特征匹配对齐的试卷批改方法,其特征在于,所述步骤S4中,所述迭代算法采用RANSAC算法。

5.根据权利要求1所述的基于图像特征匹配对齐的试卷批改方法,其特征在于,所述步骤S1中,所述原始试卷图像通过相机采集,所述目标试卷图像为试卷模板PDF页。

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