[发明专利]一种测量仪及测量方法有效
申请号: | 202110355393.8 | 申请日: | 2021-04-01 |
公开(公告)号: | CN113074687B | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
发明(设计)人: | 倪根林;倪振超 | 申请(专利权)人: | 倪根林 |
主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20;G01B21/08;G01B21/04;G01B21/10 |
代理公司: | 杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289 | 代理人: | 张解翠 |
地址: | 310000 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量仪 测量方法 | ||
本发明公开了一种测量仪,涉及精密测量设备技术领域,包括测量组件,测量组件包括角度调节器,角度调节器两侧分别设有第一滑块和第二滑块,第一滑块上设有第一测针,第二滑块上设有第二测针,第一测针和第二测针之间设有第三测针,第三测针滑动连接于角度调节器上;驱动组件,驱动组件和角度调节器连接;定位组件;数据采集组件;终端,终端和数据采集组件连接。本发明的技术效果在于它测量出的轮齿两侧的齿廓形状误差精度高;实现了对轮齿两侧齿廓形状和轮齿厚度的一次性综合测量;利用相对测量原理,对环境要求低,误差干扰小;便携结构,解决超大齿轮齿形误差和齿厚测量问题;被测量模数几乎不受限制;结构简单造价低。
技术领域
本发明涉及精密测量设备技术领域,具体涉及一种测量仪及测量方法。
背景技术
GBT10095.1-2001标准规定,对单个齿轮的加工精度从传动准确性、传动平稳性和载荷分布均匀性三个方面综合考虑,用以下几个精度指标进行控制:单个齿距偏差、齿距积累总偏差、齿廓总偏差(齿形误差)以及螺旋线总偏差(齿向误差),高速齿轮检验还包括齿距积累偏差。
齿形误差是指实际齿轮轮廓和理论齿轮轮廓之间的偏差,齿形误差包括齿廓形状误差和齿廓位置误差,相关的齿形误差测量设备功能单一,一般只能测量被测齿轮的轮齿一侧的齿廓形状误差,若需要测量被测齿轮的轮齿另一侧的齿廓形状误差,就需要对被测齿轮重新校准和定位,导致两次测量的基准存在较大误差,所以无法结合被测齿轮的轮齿两侧的齿廓形状误差,从而得出被测齿轮的轮齿的齿廓位置误差,即,得出被测齿轮的轮齿的齿形误差。
中国发明专利,公开号:CN106556366A,公开日:2017.04.05,公开了一种解决微小齿轮测量的柱形测头及测量方法,将测针的针尖研磨成与测针的轴线相垂直的圆形端面,避免测量过程中测杆和齿面不必要的干涉现象,其不足之处在于,只能测量被测齿轮的轮齿单侧的齿廓形状误差,不能测量被测齿轮的齿廓位置误差,也不能同时测量被测齿轮的轮齿的齿形误差和齿厚偏差。
发明内容
1、发明要解决的技术问题
针对齿形误差测量设备测量轮齿两侧的齿廓形状误差存在诸多限制的技术问题,本发明提供了一种测量仪及测量方法,提供一种常规的齿形误差快速测量手段,便携设计结构解决超大齿轮齿形误差测量问题,实现轮齿双侧齿廓和齿厚的一次性综合测量,利用相对测量原理,对环境要求低,它测量出的轮齿两侧的齿廓形状误差精度高,对被测模数几乎不受限制,测量仪结构简单造价低。
2、技术方案
为解决上述问题,本发明提供的技术方案为:
一种测量仪,包括:
测量组件,所述测量组件包括角度调节器,所述角度调节器两侧分别设有第一滑块和第二滑块,所述第一滑块上设有第一测针,所述第二滑块上设有第二测针,所述第一测针和所述第二测针之间设有第三测针,所述第三测针滑动连接于所述角度调节器上;
驱动组件,所述驱动组件和所述角度调节器连接;
定位组件,所述定位组件用于对被测齿轮进行定位;
数据采集组件,所述数据采集组件和所述第一测针、所述第二测针以及所述第三测针均连接;
终端,所述终端和所述数据采集组件连接。
可选的,所述测量仪还包括支架,所述支架一端和所述驱动组件连接,所述支架另一端和所述角度调节器连接。
可选的,所述定位组件包括对中块,所述对中块套设在所述第三测针外侧。
可选的,所述定位组件包括激光器,所述激光器设于所述支架的顶部。
可选的,所述测量组件还包括测头体,所述测头体套设于所述第一滑块和所述第二滑块外侧,所述测头体和所述角度调节器连接,所述第三测针位于所述测头体内部。
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