[发明专利]一种等效气隙长度变化的磁通切换电机磁场饱和补偿方法有效

专利信息
申请号: 202110357541.X 申请日: 2021-04-01
公开(公告)号: CN112949146B 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 周扬忠;崔征山;周祎豪 申请(专利权)人: 福州大学
主分类号: G06F30/23 分类号: G06F30/23;G06F17/18
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 陈鼎桂;蔡学俊
地址: 350108 福建省福州市*** 国省代码: 福建;35
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 等效 长度 变化 切换 电机 磁场 饱和 补偿 方法
【权利要求书】:

1.一种等效气隙长度变化的磁通切换电机磁场饱和补偿方法,其特征在于,包括以下步骤:

在线性磁路下,采用解析法,建立定子永磁型磁通切换电机的解析模型,获得考虑定子双边开槽情况下的气隙磁密Bslot;同时,选取磁场中的标量磁位为求解变量,计算定、转子双边开槽情况下的相对磁导函数,并获得线性磁路中无槽情况下气隙磁通密度;

根据转子位置角θr,确定出定子齿、转子齿重叠结构模式1~k及其对应的定子齿、转子齿之间的重叠角γi,i=1~k,采用有限元法分析电机铁芯饱和时的磁密分布,根据定、转子的重叠角γi,估算出定子齿饱和磁阻Rsi、转子齿饱和磁阻Rri

将定、转子齿饱和部分的磁阻等效为对应齿前气隙磁阻的增加,同时重新构建出气隙长度等效后的相对磁导函数;

根据磁动势守恒原则,计算非线性磁路中补偿后的气隙磁通密度Bslot_sati;当转子位置角大于36°时,计算下一个周期的非线性磁路下的气隙磁通密度分布;

所述估算出定子齿饱和磁阻Rsi、转子齿饱和磁阻Rri,具体如下:

设定、转子齿各自的饱和深度均呈线性变化,定子齿饱和深度gsi、转子齿饱和深度gri与重叠角γi,i=1~k,具有下列关系:

其中,hs、hr为定、转子齿的长度;αs、αr为定、转子齿的宽度;

根据磁导率为μi,计算出第i个定子齿、转子齿重叠结构模式中定子齿饱和磁阻Rsi、定子齿饱和段等效气隙磁阻Rsi′,转子齿饱和磁阻Rri、转子齿饱和段等效气隙磁阻Rri′分别为:

其中,Asi为定子齿的截面积、Ari为转子齿截面积。

2.根据权利要求1所述的一种等效气隙长度变化的磁通切换电机磁场饱和补偿方法,其特征在于,所述根据磁动势守恒原则,计算非线性磁路中补偿后的气隙磁通密度Bslot_sati,具体如下:

设第i个定子齿、转子齿重叠结构模式中定子齿饱和磁阻Rsi、定子齿饱和段等效气隙磁阻Rsi′相等;转子齿饱和磁阻Rri、转子齿饱和段等效气隙磁阻Rri′相等,计算定子齿饱和段等效气隙长度Δgsi、转子齿饱和段等效气隙长度Δgri

计算第i个定子齿、转子齿重叠结构模式中总的等效气隙长度gi

gi=g+Δgsi+Δgri (9)

根据等效前后磁动势守恒原则及第i个定子齿、转子齿重叠结构模式中线性磁路无槽气隙磁密Bslotlessi,第i个定子齿、转子齿重叠结构模式中非线性磁路饱和无槽气隙磁密Bslotless_sati

根据定子开槽时的气隙磁密可以由无槽气隙磁密与相对磁导函数相乘后获得原理,计算定子双边开槽时第i个定子齿、转子齿重叠结构模式中的磁密为:

Bslot_sati=Bslotless_sati·Λslot_sati (11)

其中,Bslot_sati为非线性磁路开槽下的磁密,Λslot_sati为气隙长度等效后的相对磁导函数。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福州大学,未经福州大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110357541.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top