[发明专利]仿真扫描点的获取方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种仿真扫描点的获取方法，其特征在于，所述方法包括：

通过光线扫描单元对仿真环境中的物体模型进行光线扫描，得到扫描点集合和所述扫描点集合中的扫描点对应的光线通路集合；

根据接收到的配置信息，在所述仿真环境中配置干扰粒子模型，所述干扰粒子模型中的干扰粒子为运动的粒子；

在所述干扰粒子运动后的第一预设时刻，判断是否存在目标干扰粒子运动到所述光线通路集合中的目标光线通路；

若存在，则确定所述目标光线通路对应的干扰扫描点；

从所述扫描点集合中除去所述干扰扫描点，得到所述第一预设时刻下的仿真扫描点集合;

获取所述仿真扫描点集合中的仿真扫描点的第一数量值；

获取所述扫描点集合中的扫描点的第二数量值；

将所述第一数量值除以所述第二数量值得到的数值确定为所述第一预设时刻下所述光线扫描单元的第一信噪比；

获取多个第二预设时刻下所述光线扫描单元的多个第二信噪比，所述第二预设时刻为所述干扰粒子运动后的第二预设时刻；

根据所述第一信噪比、所述多个第二信噪比、所述第一预设时刻以及所述多个第二预设时刻，确定所述仿真环境对应的信噪比趋势数据；

获取目标环境对应的目标信噪比趋势数据；

根据所述目标信噪比趋势数据以及所述信噪比趋势数据的匹配度，确定所述目标环境下待配置的干扰粒子模型的配置信息。

2.如权利要求1所述的仿真扫描点的获取方法，其特征在于，所述判断是否存在目标干扰粒子运动到所述光线通路集合中的目标光线通路的步骤，包括：

确定所述干扰粒子的位置信息、所述光线扫描单元的位置信息以及所述扫描点的位置信息；

根据所述光线扫描单元的位置信息以及所述扫描点的位置信息，确定所述光线通路集合中的光线通路的路径信息；

根据所述干扰粒子的位置信息以及所述光线通路的路径信息，判断是否存在目标干扰粒子运动到所述光线通路集合中的目标光线通路；

若存在，则执行所述确定所述目标光线通路对应的干扰扫描点的步骤。

3.如权利要求2所述的仿真扫描点的获取方法，其特征在于，所述确定所述干扰粒子的位置信息的步骤，包括：

根据所述配置信息中的所述干扰粒子的半径以及所述干扰粒子的密度，确定所述干扰粒子的质量；

根据所述干扰粒子的质量以及所述干扰粒子模型中的风力向量场中风力的大小和方向，确定所述干扰粒子的加速度；

根据所述配置信息中的所述干扰粒子的初速度以及所述干扰粒子的加速度，确定所述干扰粒子的位置信息。

4.如权利要求1所述的仿真扫描点的获取方法，其特征在于，所述在所述仿真环境中配置干扰粒子模型的步骤，包括：

确定待配置的干扰粒子模型中的干扰粒子的作用空间；

在所述仿真环境的所述作用空间中配置所述干扰粒子模型。

5.如权利要求4所述的仿真扫描点的获取方法，其特征在于，所述确定待配置的干扰粒子模型中的干扰粒子的作用空间的步骤，包括：

获取所述光线扫描单元的探测范围；

将所述探测范围确定为待配置的干扰粒子模型中的干扰粒子的作用空间。