[发明专利]一种用于测量光学导引头处理延时时间的方法及装置

说明书

本发明公开了一种用于测量光学导引头处理延时时间的方法，包括以下步骤：S1、启动光学导引头，并对光学导引头根据预设角度进行调整；S2、对测试系统上电，得到测试系统的初始相位差φ0；S3、通过测试控制器控制靶标停止运动，保持测试系统处于上电状态，得到处理延时的时间tde l ay。本发明还提供了一种用于测量光学导引头处理延时时间的装置，装置包括靶标、光学导引头、测试控制器、电机驱动、步进电机和PC端分析装置。

技术领域

本发明涉及光学导引头处理时间领域，具体来说，涉及一种用于测量光学导引头处理延时时间的方法及系统。

背景技术

目前为了测量得到光学导引头的处理延时时间，往往会采用理论推算的方式代替实际测试；或者采用侵入性的，以及手动操作的办法进行。例如，通过在系统设计时，在光机模块中的成像电路中预留成像同步信号输出接口，或者是预留同步驱动信号接口，同时在数据处理模块中预留脱靶量输出同步信号接口，通过分别使用示波器的两个通道，同时测量成像电路输出的同步信号或者同步驱动信号，以及数据处理模块输出的同步信号，对比两个信号的相位差进而得到处理延时时间，这类方法的问题在于，侵入性的方法使得测试方法具有较强的依赖性，不但依赖于被测系统，同时依赖于专用的测试设备接口，而专用的测试设备往往又会带来成本较高的问题，此外，手动测量的测试方法容易出错，效率较低且难以快速得到该指标的统计分布情况，所以需要一种用于测量光学导引头处理延时时间的方法及装置，以获取一种非侵入式的、自动化的光学导引头处理延时测试方法且获取一套可以用来进行光学导引头延时测试的低成本装置。

发明内容

为解决现有技术中存在的问题，本发明提供一种用于测量光学导引头处理延时时间的方法及装置，具有非侵入式、自动化测量且成本很低优点。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：一种用于测量光学导引头处理延时时间的方法，包括以下步骤：

S1、启动光学导引头，并对光学导引头根据预设角度进行调整；

S2、对测试系统上电，上电后根据靶标的初始位置P0、转动角度θ、方位向脱靶量信息αi、俯仰向脱靶量信息βi、靶标的位置Pi、Pi序列的拟合参数φp、αi序列的拟合参数φα和βi序列的拟合参数φβ得到测试系统的初始相位差φ0；

S3、通过测试控制器控制靶标停止运动，保持测试系统处于上电状态，根据匀速圆周运动状态下靶标转动的角速度ω、测试控制器第i次输出信息时的时间戳ti、在ti时刻解析得到的光学导引头输出的方位向αti、在ti时刻解析得到的光学导引头输出的俯仰向的脱靶量信息βti、步骤S2中的靶标的初始位置P0、当前靶标在ti时刻的实时位置Pti、参数φ的拟合结果φtp和αti序列的拟合结果φαt、βti序列的拟合结果φβt得到处理延时的时间tdelay。

在本技术方案中，使用光学导引头处理延时测试，一共需要步骤S2和步骤S3两个步骤，步骤S2用于得到测试系统的初始相位差，步骤S3用于得到最终的处理延时时间数据。步骤S2整个系统上电，并通过导引头提供的控制接口，对靶标进行锁定，使导引头能够持续输出脱靶量信息，步骤S3在执行完步骤S2后，通过测试控制器控制靶标停止运动，同时整个系统保持上电，测试系统中光学导引头和靶标等设备的相对位置固定不变，光学导引头继续持续输出脱靶量信息，提供了一套非侵入式的、自动化的光学导引头处理延时测试方法。

在进一步的技术方案中，步骤S1包括：

调整光学导引头光轴的距离和光学导引头与靶标之间的距离。

在本技术方案中，整个系统上电，并通过导引头提供的控制接口，对靶标进行锁定，使导引头能够持续输出脱靶量信息。

在进一步的技术方案中，通过所述距离使靶标在做圆周运动的过程在光学导引头的视场中完整成像。

在本技术方案中，能够充分的采集靶标运动，有助于光学导引头处理延时测试。