[发明专利]一种提高迭代初值精度的电离层层析成像方法有效

专利信息
申请号: 202110365452.X 申请日: 2021-04-02
公开(公告)号: CN113093189B 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 王成;刘波;肖鹏;陈亮;刘露;刘敏;眭晓虹;郭午龙 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90;G01S19/42;G01T1/29
代理公司: 北京格允知识产权代理有限公司 11609 代理人: 张莉瑜
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 初值 精度 电离层 层析 成像 方法
【权利要求书】:

1.一种提高迭代初值精度的电离层层析成像方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1、将电离层区域分割成多个网格,确定每个网格的坐标,并基于电离层IRI经验模型确定每个网格的电子密度初值;

S2、在电离层区域下方间隔设置多台垂测仪,并利用垂测仪结合星载全极化SAR数据确定多个不同点的垂直电子密度;

S3、根据利用垂测仪结合星载全极化SAR数据确定的垂直电子密度,对相应网格的电子密度初值进行更新;

S4、利用GPS获取不同路径的多条射线并反演各条射线对应的TEC值,分别记录GPS探测时的GPS卫星坐标与接收站坐标;

S5、计算每条射线在每个网格中的投影长度;

S6、利用每个网格的电子密度初值、各条射线在每个网格中的投影长度及各条射线对应的TEC值,基于乘法代数重建法进行层析成像迭代反演,经过多次迭代后,求得电离层区域的电子密度分布。

2.根据权利要求1所述的提高迭代初值精度的电离层层析成像方法,其特征在于:

所述步骤S2中,利用垂测仪结合星载全极化SAR数据确定多个不同点的垂直电子密度时,对于电离层峰值高度以下的电子密度信息,直接由垂测仪测量得到对应的垂直电子密度,对于电离层峰值高度处及以上的电子密度信息,通过α-Chapman模型结合垂测仪与星载全极化SAR数据推算得到对应的垂直电子密度。

3.根据权利要求2所述的提高迭代初值精度的电离层层析成像方法,其特征在于:

所述步骤S2中,α-Chapman模型包括:

其中,N(h)表示高度h处的电子密度,z表示虚高,NmF2为峰值高度hmF2处的电子密度,HT表示标高。

4.根据权利要求3所述的提高迭代初值精度的电离层层析成像方法,其特征在于:

所述步骤S2中,通过α-Chapman模型结合垂测仪与星载全极化SAR数据推算得到对应的垂直电子密度时,利用垂测仪结合星载全极化SAR数据推算标高HT,包括:

首先,以星载全极化SAR探测地面上的各垂测仪,利用星载全极化SAR数据确定多条SAR对应射线,并确定各条射线对应的总TEC值TECSAR

其次,确定电离层区域上剖面到SAR卫星高度的总电子含量TECT,TECT等于相应的总TEC值TECSAR减去由垂测仪测量得到的电离层区域下剖面TEC值;

最后,根据标高HT与电离层区域上剖面到SAR卫星高度的总电子含量TECT之间的关系式,计算标高HT

5.根据权利要求4所述的提高迭代初值精度的电离层层析成像方法,其特征在于:

所述步骤S2中,对于SAR对应射线,通过如下公式确定各条射线对应的总TEC值TECSAR

其中,f表示星载全极化SAR的载频,B表示电离层区域的地磁场强度,θ表示电离层区域的地磁场与星载全极化SAR信号夹角,Ω表示电离层区域引起的法拉第旋转角偏移。

6.根据权利要求4所述的提高迭代初值精度的电离层层析成像方法,其特征在于:

所述步骤S2中,根据标高HT与电离层区域上剖面到SAR卫星高度的总电子含量TECT之间的关系式计算标高HT时,关系式为:

其中,Hs为SAR卫星高度。

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