[发明专利]深度图优化方法及装置、系统、电子设备、存储介质

权利要求书

1.一种深度图优化方法，其特征在于，包括：

采集深度传感器获取的目标空间的深度图；

采集偏振传感器获取的目标空间的偏振图；

根据所述偏振图，获取目标面的法向量；

将所述深度图映射到所述偏振图上，根据所述法向量，对所述深度图进行代价计算和聚合，获取优化的深度图；

所述代价计算的函数为：

其中，是一个二元算子，是的K-T转换，是深度图，是目标空间的法向量图，代价聚合的过程就是优化过程，使得计算得到的法向量与的法向量最接近。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述深度图映射到所述偏振图上，包括：

计算所述深度传感器坐标系到偏振传感器坐标系的转换矩阵；

通过所述转换矩阵将深度图映射到所述偏振图上。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述转换矩阵为：

其中（、、）为偏振图的像素坐标，（、、）为深度图的像素坐标，W是一个4×4的转换矩阵。

4.一种深度图优化装置，其特征在于，包括：

第一采集模块，用于采集深度传感器获取的目标空间的深度图；

第二采集模块，用于采集偏振传感器获取的目标空间的偏振图；

获取模块，用于根据所述偏振图，获取目标面的法向量；

计算模块，用于将所述深度图映射到所述偏振图上，根据所述法向量，对所述深度图进行代价计算和聚合，获取优化的深度图；所述代价计算的函数为：

其中，是一个二元算子，是的K-T转换，是深度图，是目标空间的法向量图，代价聚合的过程就是优化过程，使得计算得到的法向量与的法向量最接近。

5.一种深度图优化系统，其特征在于，包括：

深度传感器，用于采集目标空间的深度图；

偏振检测传感器，用于采集目标空间的偏振图，并根据所述偏振图计算目标面的法向量；

计算模块，用于控制所述深度传感器和偏振检测传感器工作，并将所述深度图映射到所述偏振图上，根据所述法向量，对所述深度图进行代价计算和聚合，获取优化的深度图；所述代价计算的函数为：

其中，是一个二元算子，是的K-T转换，是深度图，是目标空间的法向量图，代价聚合的过程就是优化过程，使得计算得到的法向量与的法向量最接近。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述深度传感器主要由主动光发射模块、深度传感模块和深度控制模块构成，所述主动光发射模块用于向外发射光线，投射在目标物体上；所述深度传感模块用于接收若干由目标物体反射的光线信号；所述深度控制模块用于控制深度传感模块和主动光发射模块进行深度感知。

7.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述偏振检测传感器主要由偏振光发射模块、偏振传感模块和偏振控制模块构成，所述偏振光发射模块用于向外发射光线，投射在目标物体上；所述偏振传感模块用于接收若干由目标物体反射的光线信号；所述偏振控制模块用于控制偏振光发射模块和偏振传感模块获取目标面的法向量。

8.一种电子设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-3任一项所述的方法。

9.一种计算机可读的存储介质，其上存储有计算机指令，其特征在于，该指令被处理器执行时实现如权利要求1-3中任一项所述方法的步骤。