[发明专利]一种毫米波辐射计线性度的测量装置和方法有效
申请号: | 202110365820.0 | 申请日: | 2021-04-06 |
公开(公告)号: | CN113296063B | 公开(公告)日: | 2023-09-29 |
发明(设计)人: | 曹月;成俊杰;程春悦;范昌模;杨寒旭 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 付生辉 |
地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 毫米波 辐射计 线性 测量 装置 方法 | ||
1.一种毫米波辐射计线性度的测量装置,其特征在于,包括:
控制装置、辐射计、极化栅网、可移动金属板、冷参考负载和热参考负载,其中,
所述控制装置用于控制辐射计的位置和角度,
所述极化栅网用于反射或透射噪声极化分量,
所述可移动金属板用于反射噪声极化分量,
所述冷参考负载和热参考负载用于提供不同温度的噪声,
所述冷参考负载平行于地面,热参考负载垂直于地面,且装载有热参考负载的支撑框架和装载有冷参考的支撑框架夹角为直角,
所述装载有冷参考负载的支撑框架、装载有热参考负载的支撑框架和可移动金属板呈U型,
所述极化栅网的线栅方向平行于装载有冷参考负载的支撑框架、装载有热参考负载的支撑框架和可移动金属板;
所述测量装置的毫米波辐射计线性度的测量方法包括,
S1:控制载有辐射计的控制装置,使得辐射计处于输出电压最大值对应的角度,
S2:在辐射计的初始位置、第一位置和第二位置,依次控制所述控制装置,改变辐射计的角度,依次获取每个位置、每个角度对应的辐射计的输出电压值,
S3:计算每个角度对应的初始位置输出电压值、第一位置输出电压值和第二位置输出电压值的平均数,作为此角度的输出电压值,
S4:利用每个角度的输出电压值,计算所述辐射计的线性度。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述控制装置包括:
旋转台和位移台,
所述旋转台用于改变辐射计的接收角度,
位移台用于改变辐射计的水平位置。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,在第一工作模式下,
所述辐射计载有天线的轴线对准热参考负载的中心,并与所述旋转台的轴线一致;
热参考负载平行于参考面的噪声极化分量被极化栅网透射从而入射到辐射计,垂直于参考面的噪声极化分量被反射回热参考负载并吸收;
冷参考负载垂直于参考面的噪声极化分量被极化栅网反射,从而入射到辐射计,平行于参考面的极化分量将被可移动金属板反射,并被冷参考负载吸收,
其中,参考面为与所述装载有冷参考负载的支撑框架、装载有热参考负载的支撑框架和可移动金属板均垂直的平面。
4.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,在第二工作模式下,
所述辐射计载有天线的轴线对准冷参考负载的中心,并与所述旋转台的轴线一致;
热参考负载垂直于参考面的噪声极化分量被极化栅网反射从而入射到辐射计,平行于参考面的噪声极化分量被可移动金属板反射,并被热参考负载吸收;
冷参考负载平行于参考面的噪声极化分量被极化栅网透射,从而入射到辐射计,垂直于参考面的极化分量将被反射回冷参考负载并吸收。
5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第一位置为以初始位置为起点,沿所述辐射计载有的天线轴线方向,向前移动半个工作波长,
所述第二位置为以初始位置为起点,沿所述辐射计载有的天线轴线方向,向后移动半个工作波长。
6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述测量装置的毫米波辐射计线性度的测量方法还包括:
在第一工作模式下,根据如权利要求1或5所述的测量装置的毫米波辐射计线性度的测量方法进行测量,得到第一工作模式下的第一线性度,
在第二工作模式下,根据如权利要求1或5所述的测量装置的毫米波辐射计线性度的测量方法进行测量,得到第二工作模式下的第二线性度,
对第一线性度和第二线性度取算术平均数,作为辐射计的线性度。
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