[发明专利]用于执行数据总线反相操作的电子设备在审
申请号: | 202110368252.X | 申请日: | 2021-04-06 |
公开(公告)号: | CN114546923A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 高仁成 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | G06F13/42 | 分类号: | G06F13/42 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 黄倩 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 执行 数据 总线 操作 电子设备 | ||
1.一种电子设备,包括:
第一数据处理电路,检测在第一数据中所包括的位的逻辑电平,并且当所述第一数据中具有预定逻辑电平的位的数目等于或大于预设数目时,通过使所述第一数据的逻辑电平反相来生成第一内部数据;以及
第二数据处理电路,检测在第二数据中所包括的位的逻辑电平,并且当所述第二数据中具有所述预定逻辑电平的位的数目等于或大于所述预设数目时,通过使所述第二数据的逻辑电平反相来生成第二内部数据。
2.根据权利要求1所述的电子设备,其中:
当所述第一数据中具有所述预定逻辑电平的位的数目小于所述预设数目时,所述第一数据处理电路通过使所述第一数据的逻辑电平不反相来生成所述第一内部数据,以及
当所述第二数据中具有所述预定逻辑电平的位的数目小于所述预设数目时,所述第二数据处理电路通过使所述第二数据的逻辑电平不反相来生成所述第二内部数据。
3.根据权利要求1所述的电子设备,其中所述第一数据处理电路和所述第二数据处理电路被定位在具有存储器单元阵列的存储器区域中,所述第一内部数据和所述第二内部数据被存储在所述存储器单元阵列中。
4.根据权利要求1所述的电子设备,其中:
所述第一数据处理电路通过对准和并行化被串行输入的所述第一数据来生成所述第一内部数据,以及
所述第二数据处理电路通过对准和并行化被串行输入的所述第二数据来生成所述第二内部数据。
5.根据权利要求1所述的电子设备,其中所述第一数据处理电路包括:
第一数据缓冲器,通过接收所述第一数据来生成第一传送数据;
第一对准电路,通过对准和并行化被串行输入的所述第一传送数据来生成第一对准数据;
第一数据检测电路,通过检测在所述第一对准数据中具有所述预定逻辑电平的位的数目来生成第一检测信号;以及
第一数据转换电路,通过基于所述第一检测信号使所述第一对准数据反相或不反相来生成所述第一内部数据。
6.根据权利要求5所述的电子设备,其中所述第一数据检测电路包括:
第一检测电路,当数据反相使能信号被使能时,通过检测在所述第一对准数据中所包括的第一组位的逻辑电平来生成第一预检测信号的第一组;
第二检测电路,当所述数据反相使能信号被使能时,通过检测在所述第一对准数据中所包括的第二组位的逻辑电平来生成所述第一预检测信号的第二组;以及
第一检测信号生成电路,通过检测所述第一预检测信号的所述第一组和所述第二组的逻辑电平来生成所述第一检测信号。
7.根据权利要求1所述的电子设备,其中所述第二数据处理电路包括:
第二数据缓冲器,通过接收所述第二数据来生成第二传送数据;
第二对准电路,通过对准和并行化被串行输入的所述第二传送数据来生成第二对准数据;
第二数据检测电路,通过检测在所述第二对准数据中具有所述预定逻辑电平的位的数目来生成第二检测信号;以及
第二数据转换电路,通过基于所述第二检测信号使所述第二对准数据反相或不反相来生成所述第二内部数据。
8.根据权利要求7所述的电子设备,其中所述第二数据检测电路包括:
第三检测电路,当数据反相使能信号被使能时,通过检测在所述第二对准数据中所包括的第一组位的逻辑电平来生成第二预检测信号的第一组;
第四检测电路,当所述数据反相使能信号被使能时,通过检测在所述第二对准数据中所包括的第二组位的逻辑电平来生成所述第二预检测信号的第二组;以及
第二检测信号生成电路,通过检测所述第二预检测信号的所述第一组和所述第二组的逻辑电平来生成所述第二检测信号。
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