[发明专利]芯片及其使用方法

说明书

本申请实施例公开了一种芯片及其使用方法，涉及电子技术领域。其中，该芯片包括：存储单元、数据处理单元、测试控制单元以及检测设备，其中，所述数据处理单元与所述存储单元连接，用于从上位机中获取配置信息并将所述配置信息存储到所述存储单元；所述测试控制单元与所述数据处理单元连接，用于通过所述数据处理单元从所述存储单元获取所述配置信息，并基于所述配置信息配置待测试芯片；所述检测设备分别与所述测试控制单元和所述待测试芯片连接，用于对被配置后的待测试芯片进行检测，以得到测试数据。本申请能够有效提升了测试效率、降低了测试成本。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，更具体地，涉及一种芯片及其使用方法。

背景技术

随着集成电路产业的快速发展，集成电路芯片的测试成本所占比例不断攀升，集成电路设计公司在芯片设计和生产出来后往往需要寻找专业芯片测试机对芯片进行测试，以识别并挑选出坏片，只有通过测试的合格芯片才可以销售使用。

然而，目前国内对芯片的测试普遍还是处于人工测试的阶段，从而导致测试成本较高、测试效率低下。

发明内容

鉴于上述问题，本申请提出了一种芯片及其使用方法，以解决或部分解决上述问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种芯片，该芯片包括：存储单元、数据处理单元、测试控制单元以及检测设备，其中：数据处理单元与存储单元连接，用于从上位机中获取配置信息并将配置信息存储到存储单元；测试控制单元与数据处理单元连接，用于通过数据处理单元从存储单元获取配置信息，并基于配置信息配置待测试芯片；检测设备分别与测试控制单元和待测试芯片连接，用于对被配置后的待测试芯片进行检测，以得到测试数据。

第二方面，本申请实施例提供了一种芯片使用方法，该芯片使用方法应用于第一方面的芯片，该芯片使用方法包括：控制测试控制单元通过数据处理单元从存储单元中获取预先存储的配置信息，并根据配置信息对待测试芯片进行配置；获取待测试芯片的配置状态；若待测试芯片的配置状态为指定状态，通过检测设备对处于指定状态下的待测试芯片进行测试，得到测试数据。

本申请实施例提供的芯片及其使用方法，通过存储单元、数据处理单元、测试控制单元以及检测设备搭建的芯片，其中：数据处理单元与存储单元连接，用于从上位机中获取配置信息并将配置信息存储到存储单元；测试控制单元与数据处理单元连接，用于通过数据处理单元从存储单元获取配置信息，并基于配置信息配置待测试芯片；检测设备分别与测试控制单元和待测试芯片连接，用于对被配置后的待测试芯片进行检测，以得到测试数据，从而实现了对芯片的自动化测试，提升了测试效率，减少人工介入，确保了测试数据的可靠性和稳定性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了根据本申请实施例提供的芯片的结构示意图。

图2示出了根据本申请实施例提供的芯片的具体框架示意图。

图3示出了根据本申请实施例提供的测试控制单元的结构示意图。

图4示出了根据本申请实施例提供的数据处理单元的结构示意图。

图5示出了根据本申请一个实施例提供的芯片使用方法流程图。

图6示出了根据本申请另一个实施例提供的芯片使用方法流程图。

图7示出了根据本申请又一个实施例提供的芯片使用方法流程图。

图8示出了根据本申请实施例提供的芯片使用方法的实施流程图。

图9示出了根据本申请再一个实施例提供的芯片使用方法流程图。