[发明专利]薄膜材料导热性能测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种薄膜材料导热性能测试方法，其特征在于，采用薄膜材料导热性能测试装置进行测试，所述薄膜材料导热性能测试装置包括测试平台、加热元件、测温元件以及冷却元件；

所述测试平台为绝热材质；

所述加热元件、所述测温元件以及所述冷却元件依次排列设置于所述测试平台的表面；

所述加热元件与所述冷却元件用于对待测样品进行热传递；

所述测温元件用于对所述待测样品进行温度检测；

所述方法包括：

所述测试平台上放置有待测样品，所述待测样品在其长度方向上的一端位于所述加热元件上，另一端位于所述冷却元件上，所述待测样品的本体位于所述测温元件上；

开启所述加热元件、所述冷却元件和所述测温元件，使得所述加热元件与所述冷却元件分别从所述待测样品的长度方向上的两端对所述待测样品进行加热和冷却，待所述待测样品上的热流恒定，记录所述测温元件对所述待测样品进行温度检测的结果；

根据检测结果进行热通量和导热系数的计算；

所述热通量通过如下关系式计算：

其中，Q为热通量，单位为焦耳J，U为所述加热元件的电压，单位为V，I为所述加热元件的电流，单位为A，η为电热转换率；

所述导热系数通过如下关系式计算：

其中，λ为导热系数，W为所述待测样品的宽度，单位为米，d为所述待测样品的厚度，单位为米，L_n为第n个测温元件与所述加热元件之间的距离，单位为米，ΔL_n为第n+1个测温元件与第n个测温元件之间的距离，T_n为第n个测温元件的检测温度，单位为℃，ΔT_n为第n个测温元件与第n+1个测温元件之间的温度差，B为系统常数，n为正整数。

2.根据权利要求1所述的薄膜材料导热性能测试方法，其特征在于，所述加热元件、所述测温元件以及所述冷却元件呈一字型排列。

3.根据权利要求2所述的薄膜材料导热性能测试方法，其特征在于，所述加热元件和所述冷却元件之间设置有多个测温点。

4.根据权利要求1至3任一项所述的薄膜材料导热性能测试方法，其特征在于，还包括真空恒温箱和数据处理设备，所述测试平台设置于所述真空恒温箱的内部，所述数据处理设备与所述真空恒温箱、所述加热元件、所述测温元件以及所述冷却元件电连接，用于接收并处理数据。

5.根据权利要求1所述的薄膜材料导热性能测试方法，其特征在于，所述加热元件、所述测温元件以及所述冷却元件的表面设置有导热硅脂层。

6.根据权利要求1所述的薄膜材料导热性能测试方法，其特征在于，所述待测样品的长宽比大于10。