[发明专利]一种波形参数的调整方法、装置及可读存储介质

说明书

本发明公开了一种波形参数的调整方法、装置及可读存储介质，该方法包括：获取测试波形；计算测试波形的特性值，特性值包括幅值平均值和幅值最大值；若当前幅值最大值大于第一预设倍数的幅值平均值，设置第二预设倍数的幅值最大值作为测试波形的触发值；等待第一预设时长后，停止获取测试波形；统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；根据波形个数计算测试波形的周期；将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔。通过实施本发明，可以实现测试波形的横轴的刻度间隔的自动化调整，将波形调整到满足测试报告需求的状态显示出来，可以提高示波器的自动化程度，大大提高示波器的测试效率。

技术领域

本申请涉及示波器技术领域，尤其涉及一种波形参数的调整方法、装置及可读存储介质。

背景技术

目前，采用示波器对电子产品进行波动、变换、噪声等项测试时，需要根据实际测试波形手动调整示波器上测试波形的参数，例如，x刻度间隔，y刻度间隔，触发电压值等，使得示波器上显示的测试波形能够满足测试报告需求。但是不同的能量和测试项目的测试波形差异较大，每次测试时，都需要手动逐步调整测试波形的参数，速度慢，效率低。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例通过提供一种波形参数的调整方法、装置及可读存储介质，用以解决现有技术中通过手动调整测试波形的参数，速度慢，效率低的问题。

为了解决上述问题，第一方面，本发明实施例提供了一种波形参数的调整方法，应用于示波器，包括：获取测试波形；计算测试波形的特性值，特性值包括幅值平均值和幅值最大值；若当前幅值最大值大于第一预设倍数的幅值平均值，设置第二预设倍数的幅值最大值作为测试波形的触发值；等待第一预设时长后，停止获取测试波形；统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；根据波形个数计算测试波形的周期；将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔。

可选地，若当前幅值最大值小于或等于第一预设倍数的幅值平均值，设置第四预设倍数的幅值最大值作为测试波形的触发值。

可选地，在将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔之后，波形参数的调整方法还包括：再次获取测试波形；等待第一预设时长后，停止获取测试波形；再次执行统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；根据波形个数计算测试波形的周期；将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔，以对测试波形的横轴的刻度间隔进行优化。

可选地，波形参数的调整方法还包括：将当前幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数的幅值平均值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔。

可选地，在将幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数的幅值平均值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔之后，在停止获取测试波形之前，波形参数的调整方法还包括：多次重复执行将当前幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数的幅值平均值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔，以对测试波形的纵轴的原点和测试波形的纵轴的刻度间隔进行优化。

可选地，波形参数的调整方法还包括：获取测试波形峰峰值；将第六预设倍数的峰峰值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔。

可选地，在将第六预设倍数的峰峰值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔之后，波形参数的调整方法还包括：多次重复执行获取测试波形峰峰值，将第六预设倍数的峰峰值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔，以对测试波形的纵轴的刻度间隔进行优化。