[发明专利]一种钝化层制作方法在审
申请号: | 202110373658.7 | 申请日: | 2021-04-07 |
公开(公告)号: | CN113113324A | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 沈怡东;张超;徐冠东 | 申请(专利权)人: | 捷捷半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L23/29;H01L21/329 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 荣颖佳 |
地址: | 226000 江苏省南通*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 钝化 制作方法 | ||
本申请提供了一种钝化层制作方法,涉及半导体技术领域。首先提供一待钝化二极管,其中,待钝化二极管包括相互连接的N型层与P型层,然后利用正硅酸乙酯沿P型层的表面制作二氧化硅层,再去除目标区域内的二氧化硅层,并露出目标区域内的P型层,再对目标区域内的P型层与N型层进行刻蚀,以形成露出PN结的沟槽,最后利用玻璃粉在沟槽内实现电泳玻璃工艺,并将玻璃粉进行烧结,以形成钝化层。本申请提供的钝化层制作方法具有产品性能好、可靠性高以及复杂度低等优点。
技术领域
本申请涉及半导体技术领域,具体而言,涉及一种钝化层制作方法。
背景技术
在制作快恢复二极管时,需要利用玻璃粉制作钝化层,目前常见的利用玻璃粉制作钝化层的工艺一般包括三种,分别为手术刀法进行玻璃钝化、光阻玻璃法以及电泳玻璃法。
其中,手术刀法进行玻璃钝化的工艺属于纯手工操作,作业过程复杂,破片较多,且沟槽鸟嘴部分玻璃钝化保护不好,易引起可靠性问题。光阻玻璃法会造成玻璃粉较浪费,且因光阻玻璃较厚,不易曝光显影;烧结过程存在较多有机物,存在碳污染风险。电泳玻璃法:因快恢复二极管生产过程表面无氧化层(无绝缘层),无法实现选择性电泳工艺(热生长的氧化层温度均大于1000度,影响产品的TRR值);即使能实现电泳工艺,玻璃粉选择不恰当需进行引线工艺,工艺流程复杂。
综上,目前在制作钝化层时,存在可靠性低,复杂度高以及工艺流程复杂的问题。
发明内容
本申请的目的在于提供一种钝化层制作方法,以解决现有技术中在制作钝化层时,存在的可靠性低,复杂度高以及工艺流程复杂等问题。
为了实现上述目的,本申请实施例采用的技术方案如下:
本申请实施例提供了一种钝化层制作方法,应用于快恢复二极管,所述方法包括:
提供一待钝化二极管,其中,所述待钝化二极管包括相互连接的N型层与P型层;
利用正硅酸乙酯沿所述P型层的表面制作二氧化硅层;
去除目标区域内的二氧化硅层,并露出目标区域内的P型层;
对所述目标区域内的P型层与N型层进行刻蚀,以形成露出PN结的沟槽;
利用玻璃粉在所述沟槽内实现电泳玻璃工艺,并将所述玻璃粉进行烧结,以形成钝化层。
可选地,在利用所述正硅酸乙酯沿所述P型层的表面制作二氧化硅层时的温度低于900℃。
可选地,去除目标区域内的二氧化硅层,并露出目标区域内的P型层的步骤包括:
对所述二氧化硅层进行匀胶、曝光以及显影,以形成目标区域的图形;
利用氢氟酸对所述目标区域内的二氧化硅层进行刻蚀,以露出所述目标区域的P型层。
可选地,所述对所述目标区域内的P型层与N型层进行刻蚀,以形成露出PN结的沟槽的步骤包括:
将体积比为1:1~1:3的氢氟酸与硝酸进行混合,并获取刻蚀酸液;
利用所述刻蚀酸液对所述P型层与N型层进行刻蚀,并露出PN结。
可选地,在所述对所述目标区域内的P型层与N型层进行刻蚀,以形成露出PN结的沟槽的步骤之后,所述方法包括:
对所述沟槽进行清洗。
可选地,所述利用玻璃粉在所述沟槽内实现电泳玻璃工艺,并将所述玻璃粉进行烧结,以形成钝化层的步骤包括:
利用玻璃粉在所述沟槽内实现电泳玻璃工艺,并在700-850℃条件下,在N2与O2环境中,将所述玻璃粉进行烧结。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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