[发明专利]一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测方法与系统

权利要求书

1.一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤1：构造数据矩阵；

步骤2：利用所述数据矩阵构造中间变量矩阵；

步骤3：利用所述中间变量矩阵构造检测统计量；

步骤4：根据系统设定的虚警概率及所述的检测统计量确定检测门限；

步骤5：比较所述检测统计量与所述检测门限的大小，并判决目标是否存在；

所述步骤1中构造的数据矩阵包括：待检测数据矩阵、训练样本矩阵、信号矩阵和干扰矩阵，且依次表示为、、和，且维数分别为、、和，为系统通道数，也就是待检测数据矩阵的行数，为待检测数据矩阵的列数，物理含义为扩展目标占据的距离单元数，为训练样本个数，也就是训练样本矩阵的列数，表示信号矩阵列数，表示干扰矩阵的列数；

所述步骤2中利用所述数据矩阵构造的中间变量矩阵包括

和

式中，，上标表示共轭转置，表示矩阵的逆。

2.根据权利要求1所述的一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测方法，其特征在于：所述步骤3中利用所述中间变量矩阵构造的检测统计量为

式中，表示矩阵的迹。

3.根据权利要求2所述的一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测方法，其特征在于：所述步骤4中的检测门限为

式中，，为蒙特卡洛仿真次数，为系统设定的虚警概率值，为取整操作，为序列由大到小排列第个最大值，，，，，，，为训练样本的第次实现，为仅含干扰和噪声分量的待检测数据矩阵的第次实现，。

4.根据权利要求3所述的一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测方法，其特征在于：所述步骤5中比较检测统计量和检测门限的大小分下述两种情况进行判定：

若检测统计量大于等于检测门限，则判定目标存在；

若检测统计量小于检测门限，则判定目标不存在。