[发明专利]一种质子交换膜的老化方法和质子交换膜氢渗测试的方法在审
| 申请号： | 202110377053.5 | 申请日： | 2021-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN113125309A | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 杨伟光;王聪;郭辉;龚悦冬;黄璐 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01N13/04 | 分类号： | G01N13/04;H01M8/1004 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 刘丹丹 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 质子 交换 老化 方法 膜氢渗 测试 | ||
1.一种质子交换膜的老化方法，其特征在于，包括以下步骤：
将质子交换膜进行预处理除去所述质子交换膜中的有机杂质和无机离子，得到预处理膜；
将所述预处理膜进行高能电子束辐照处理，得到老化质子交换膜。
2.根据权利要求1所述的老化方法，其特征在于，所述预处理包括：依次进行双氧水洗和酸洗。
3.根据权利要求2所述的老化方法，其特征在于，所述双氧水洗用双氧水的质量分数为1～10％；所述双氧水洗的温度为80℃，时间为30～90min。
4.根据权利要求2所述的老化方法，其特征在于，所述酸洗用酸为稀硫酸；所述稀硫酸的摩尔浓度为0.1～1mol/L；所述酸洗的温度为80℃，时间为30～90min。
5.根据权利要求1所述的老化方法，其特征在于，所述高能电子束辐照处理的条件包括：电子的能量为1.0MeV～3.0MeV，电子束流的强度为5～20mA，辐照剂量为20～500kGy。
6.根据权利要求1所述的老化方法，其特征在于，所述高能电子束辐照处理的辐照方式为来回扫描式。
7.根据权利要求1所述的老化方法，其特征在于，所述高能电子束辐照处理在隔绝空气条件下进行。
8.根据权利要求1所述的老化方法，其特征在于，所述高能电子束辐照处理的设备为高频高压电子加速器。
9.根据权利要求1所述的老化方法，其特征在于，所述高能电子束辐照处理前还包括：将所述预处理膜进行保护处理；
所述保护处理为：将预处理膜置于透明塑料包装袋中，排除透明塑料包装袋内的空气后将透明塑料包装袋封口密封。
10.一种质子交换膜氢渗测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：
将质子交换膜进行老化处理，得到老化质子交换膜，所述老化处理采用权利要求1～9任一项所述的老化方法；
对所得的老化质子交换膜进行氢渗测试。
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