[发明专利]一种大规格千分尺测量面的研磨方法和装置

权利要求书

1.一种大规格千分尺测量面的研磨方法，其特征在于，包括

一大规格千分尺，所述大规格千分尺包括弧形的第二主体支架(20)，以及可拆卸的安装在第二主体支架(20)一端的第二测砧(21)，以及可拆卸的安装在第二主体支架(20)另一端的第二测微螺杆(22)、第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)；

一研磨架，所述研磨架包括连接部(12)、左安装部(10)和右安装部(11)，所述左安装部(10)和右安装部(11)分别与连接部(12)的左右两端固定连接和一体成型，所述左安装部(10)上设有第一内孔(15)，所述右安装部(11)上设有第二内孔(16)，所述第一内孔(15)和第二内孔(16)同轴分布，所述左安装部(10)和右安装部(11)之间的间距不超过300mm；

其具体步骤如下：

步骤一：将第二测砧(21)从第二主体支架(20)上拆卸下来，并将第二测砧(21)安装在第一内孔(15)上；

步骤二：将第二测微螺杆(22)、第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)从第二主体支架(20)上拆卸下来，再将第二测微螺杆(22)、第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)组装在第二内孔(16)上；

步骤三：将研磨棒(30)放置在第二测微螺杆(22)和第二测砧(21)之间，通过调节第二微分筒(23)和第二测力装置(25)，使得第一测量面和第二测量面分别与研磨棒(30)的两端面接触；其中，第一测量面是指第二测砧(21)上靠近第二测微螺杆(22)的端面，第二测量面是指第二测微螺杆(22)上靠近第二测砧(21)的端面；

步骤四：通过研磨棒(30)对第一测量面和第二测量面进行研磨，直到第一测量面的平面度和第二测量面的平面度达到检定规程的要求，以及第一测量面和第二测量面之间的平行度达到检定规程的要求；

步骤五：将第二测砧(21)、第二测微螺杆(22)、第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)从研磨架上拆卸下来,再将第二测砧(21)、第二测微螺杆(22)、第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)重新组装在第二主体支架(20)上；

步骤六、对重新组装好的大规格千分尺进行调“零”。

2.根据权利要求1所述的一种大规格千分尺测量面的研磨方法，其特征在于，所述连接部(12)至少包括一半圆形的弧形弯曲部。

3.根据权利要求1所述的一种大规格千分尺测量面的研磨方法，其特征在于，所述左安装部(10)为筒状，所述左安装部(10)的侧壁上设有两个径向的螺纹孔，所述两个螺纹孔与第一内孔(15)相通以及垂直，所述第一内孔(15)与第二测砧(21)间隙配合，第二测砧(21)安装在第一内孔(15)上的具体过程为：

先将第二测砧(21)从第一内孔(15)的外端伸入，并使第二测砧(21)的一端伸出第一内孔(15)；

再通过紧固螺丝(14)与两个螺纹孔的配合将第二测砧(21)安装在第一内孔(15)内。

4.根据权利要求1所述的一种大规格千分尺测量面的研磨方法，其特征在于，所述右安装部(11)为筒状，所述右安装部(11)的侧壁上还设有一锁紧孔(13)，所述锁紧孔(13)与第二内孔(16)相通以及垂直，所述大规格千分尺还包括一锁紧组件(26)，所述第二测微螺杆(22)、第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)通过锁紧组件(26)可拆卸的安装在第二主体支架(20)上；

步骤二的具体过程为：

先将锁紧组件(26)从第二主体支架(20)上拆卸下来，然后再将第二测微螺杆(22)、第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)作为一个整体从第二主体支架(20)上拆卸下来，然后再将第二测微螺杆(22)从第二内孔(16)的外端伸入，并使第二测微螺杆(22)的一端伸出第二内孔(16)，最后再通过锁紧组件(26)与锁紧孔(13)配合将第二测微螺杆(22)安装在第二内孔(16)内，进而使得第二微分筒(23)、第二固定套筒(24)和第二测力装置(25)安装在研磨架上。