[发明专利]一种计算介电常数的方法、装置、电子设备和存储介质有效
申请号: | 202110379976.4 | 申请日: | 2021-04-08 |
公开(公告)号: | CN113238199B | 公开(公告)日: | 2023-05-05 |
发明(设计)人: | 王瑞刚;苏彦;李春来;戴舜 | 申请(专利权)人: | 中国科学院国家天文台 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周天宇 |
地址: | 100012 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 计算 介电常数 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种计算介电常数的方法,其特征在于,包括:
获取待计算介电常数的物质的雷达数据,对所述雷达数据进行预处理;
根据预处理后的雷达数据绘制雷达剖面图,从所述雷达剖面图上的双曲线上选取若干点,获取被选取点的坐标值;
对所述被选取点进行拟合,得到双曲线函数;
获取所述双曲线函数的顶点的坐标值;
获取计算所述介电常数的方程组,将所述双曲线函数的顶点的坐标值以及所述被选取点的坐标值一一带入所述方程组,计算得到与所述双曲线函数的顶点以及所述被选取点一一对应的介电常数;
剔除所述与所述双曲线函数的顶点以及所述被选取点一一对应的介电常数中的不符合第一预设条件的介电常数,计算剔除不符合第一预设条件的介电常数后剩余的所有介电常数的平均值,得到平均介电常数,所述平均介电常数为所述待计算介电常数的物质的介电常数;
在获取计算所述介电常数的方程组之前,所述方法还包括:去除所述被选取点中距离所述双曲线函数的顶点最近的被选取点;
在获取计算所述介电常数的方程组之前,所述方法还包括:计算所述被选取点的回波延时与所述双曲线函数的顶点的回波延时的差值,将所述差值不满足第二预设条件的被选取点去除。
2.根据权利要求1所述的计算介电常数的方法,其特征在于,所述获取被选取点的坐标值,具体包括:获取所述被选取点的水平投影距离与回波延时。
3.根据权利要求1所述的计算介电常数的方法,其特征在于,
所述双曲线函数为y2=a(x-x0)2+b
其中,x0为所述双曲线函数的顶点对应的水平投影距离,为所述双曲线函数的顶点对应的回波延时,y为回波延时,a和b为待定系数。
4.一种计算介电常数的装置,其特征在于,包括:
预处理模块,获取待计算介电常数的物质的雷达数据,对所述雷达数据进行预处理;
根据预处理后的雷达数据绘制雷达剖面图,从所述雷达剖面图上的双曲线上选取若干点,获取被选取点的坐标值;
拟合模块,对所述被选取点进行拟合,得到双曲线函数;
获取所述双曲线函数的顶点的坐标值;
计算模块,获取计算所述介电常数的方程组,将所述双曲线函数的顶点的坐标值以及所述被选取点的坐标值一一带入所述方程组,计算得到与所述双曲线函数的顶点以及所述被选取点一一对应的介电常数;
剔除所述与所述双曲线函数的顶点以及所述被选取点一一对应的介电常数中不符合第一预设条件的介电常数,计算剔除不符合第一预设条件的介电常数后剩余的所有介电常数的平均值,得到的平均介电常数,所述平均介电常数为所述待计算介电常数的物质的介电常数;
去除模块,去除所述被选取点中离所述双曲线函数的顶点最近的被选取点,计算所述被选取点的回波延时与所述双曲线函数的顶点的回波延时的差值,将所述差值不满足第二预设条件的被选取点去除。
5.一种电子设备,其特征在于,包括:
通信器,用于与服务器通信;
处理器;
存储器,其存储有计算机可执行程序,该程序在被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1-3中任一项所述的计算介电常数的方法。
6.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-3中任一项所述的计算介电常数的方法。
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