[发明专利]一种用于USB线缆的高效集成测试方法和测试仪

说明书

本发明提供了一种用于USB线缆的高效集成测试方法和测试仪，通过将USB3.1测试设备、USB2.0测试设备和E‑Mark烧写器集成到一起同时完成USB3.1测试功能、USB2.0测试功能、E‑Mark芯片烧写及测试功能，将产品测试插拔次数减少到原来的1/3，有效的减少了产品连接器在测试插拔时造成损伤的概率，极大的提高测试设备的使用寿命。本发明通过测试设备的集成全面有效地覆盖USB线缆的功能、性能测试，提高了测试设备的测试效率，减少了量产测试时间和烧写时间，提升效率3倍以上；同时降低量产测试和烧写设备使用复杂性，降低了设备投入60％，缩减了工站数量，大幅度降低了生产和测试成本，提高了生产效率。

技术领域

本发明属于USB线缆测试技术领域，具体涉及一种用于USB线缆的高效集成测试方法和测试仪。

背景技术

USB线缆是符合USB传输协议的线缆，包括Type-C等各种接口的有源线缆和无源线缆。E-Mark全称为：Electronically Marked Cable:封装有E-Marker芯片的USB Type-C有源数据线，利用PD协议可以读取该电缆的属性：电源传输能力，数据传输能力，ID等信息，所有全功能的Type-C电缆都应该封装有E-Marker。

USB作为一种通用串行总线标准，在消费电子市场和工业领域得到了广泛的应用。USB 3.1标准支持传输速度为10Gbit/s，三段式电压5V/12V/20V，最大供电100W，新型TypeC插型不再分正反。在Type C线缆中通常带有一颗E-Mark芯片，用来存储线缆供电能力等信息。

USB线缆量产测试和E-Mark烧写是量产的重要流程。面对种类繁多的USB线缆，传统量产测试方案使用读写移动硬盘的方式，此种方式通常可以测试USB3.0的性能，但对线缆USB2.0部分的性能无法进行测试。如果要实现多功能的测试，需要在不同的测试设备和主控上进行多次插拔，增大了产品线缆在测试时连接器损坏的概率。

对于Type-C线缆，对E-Mark芯片的烧写和测试在传统Type-C生产过程中，通常作为一个单独的工站。

设计一套低成本、适用于各种USB线缆的高效集成测试仪，完成USB3.1测试、USB2.0测试及E-Mark芯片烧写测试，具有较高的实用价值，对公司大规模产品量产起到积极的作用。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：提供一种用于USB线缆的高效集成测试方法和测试仪，用于集成对USB电缆的测试和烧写功能，减少USB电缆的插拔次数。

本发明为解决上述技术问题所采取的技术方案为：一种用于USB线缆的高效集成测试方法，其特征在于：包括以下步骤：

S010：搭建测试仪，包括控制模块CU、测试设备模块TD、E-Mark烧写模块EU、上位机平台，测试设备模块TD包括USB3.1测试设备和USB2.0测试设备；上位机平台包括上位机模块SU和USB3.1主控模块；控制模块CU的信号收发端分别与测试设备模块TD、E-Mark烧写模块EU、上位机模块SU的信号收发端连接；被测线缆的一端连接USB3.1主控模块，被测线缆的另一端连接控制模块CU；

S110：上电后，上位机模块SU获取线缆类型，控制模块CU根据线缆类型选择测试项目，将线缆里的USB信号按功能分组并发送到对应的测试设备模块TD或E-Mark烧写模块EU；

S120：控制模块CU断开线缆和E-Mark烧写器的CC信号，保证在USB测试时不会进行E-Mark烧写，避免E-Mark烧写失败；

S1X0：上位机模块SU、USB3.1主控模块、控制模块TD根据测试类型对被测线缆进行USB3.1测试或者USB2.0测试；

S180：控制模块关闭CC PIN信号的Switch，将线缆的CC信号和E-Mark烧写器的CC信号连通；