[发明专利]确定物体朝向的方法及装置、电子设备和存储介质在审
申请号: | 202110382719.6 | 申请日: | 2021-04-09 |
公开(公告)号: | CN113052123A | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | 杜森垚;张皓原 | 申请(专利权)人: | 地平线(上海)人工智能技术有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/46;G06K9/62 |
代理公司: | 北京市正见永申律师事务所 11497 | 代理人: | 黄小临;冯玉清 |
地址: | 201306 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 确定 物体 朝向 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种确定物体朝向的方法,包括:
获取安装在当前物体上的成像器件采集的包含目标物体的图像;
确定所述目标物体的第一特征点和第二特征点在所述图像中的像素坐标;
根据所述第一特征点和第二特征点的像素坐标,确定所述第一特征点和所述第二特征点在当前物体的世界坐标系中的空间坐标;
根据所述第一特征点和所述第二特征点的空间坐标,确定所述目标物体相对于当前物体的朝向。
2.如权利要求1所述的方法,其中,所述第一特征点包括所述目标物体底部前端与地面的接触点,所述第二特征点包括所述目标物体底部后端与地面的接触点。
3.如权利要求1所述的方法,其中,根据所述第一特征点和所述第二特征点的空间坐标,确定所述目标物体相对于当前物体的朝向,包括:
确定所述第一特征点在所述世界坐标系中XZ平面上的第一投影点的坐标;
确定所述第二特征点在所述世界坐标系中XZ平面上的第二投影点的坐标;
根据所述第一投影点和第二投影点的坐标,计算由所述第一特征点和第二特征点在所述世界坐标系中XZ平面上形成的投影向量与X轴正向的夹角,该夹角即为所述目标物体相对于当前物体的朝向角度。
4.如权利要求1所述的方法,其中,根据所述第一特征点和第二特征点的像素坐标,确定所述第一特征点和所述第二特征点在当前物体的世界坐标系中的空间坐标,包括:
获取所述成像器件的内参和外参;
基于所述第一特征点的像素坐标、所述成像器件的内参和外参,计算所述第一特征点在所述世界坐标系中的空间坐标;以及
基于所述第二特征点的像素坐标、所述成像器件的内参和外参,计算所述第二特征点在所述世界坐标系中的空间坐标。
5.如权利要求1或2所述的方法,还包括:
根据所述第一特征点和所述第二特征点的所述像素坐标和所述空间坐标,确定所述图像中目标物体的三维检测框。
6.如权利要求5所述的方法,其中,根据所述第一特征点、第二特征点的像素坐标和空间坐标,确定所述图像中目标物体的三维检测框,包括:
根据所述第一特征点、第二特征点在所述世界坐标系中的空间坐标,确定用于表征所述目标物体的三维立方体的第三特征点和第四特征点在所述世界坐标系中的空间坐标;
根据所述第三特征点和第四特征点的空间坐标,确定所述第三特征点和第四特征点在所述图像中的像素坐标;以及
根据所述第一特征点、第二特征点、第三特征点和第四特征点的像素坐标,确定所述图像中目标物体的三维检测框。
7.如权利要求6所述的方法,其中,根据所述第一特征点、第二特征点在所述世界坐标系中的空间坐标,确定用于表征所述目标物体的三维立方体的第三特征点和第四特征点在所述世界坐标系中的空间坐标,包括:
根据所述第一特征点的空间坐标和所述目标物体的高度大小,确定第三特征点在所述世界坐标系中的空间坐标;以及
根据所述第二特征点的空间坐标和所述目标物体的宽度大小,确定第四特征点在所述世界坐标系中的空间坐标。
8.一种确定物体朝向的装置,包括:
获取单元,配置为获取安装在当前物体上的成像器件采集的包含目标物体的图像;
特征点检测单元,配置为确定所述目标物体的第一特征点和第二特征点在所述图像中的像素坐标;
坐标转换单元,配置为根据所述第一特征点和第二特征点的像素坐标,确定所述第一特征点和所述第二特征点在当前物体的世界坐标系中的空间坐标;
朝向确定单元,配置为根据所述第一特征点和所述第二特征点的空间坐标,确定所述目标物体相对于当前物体的朝向。
9.一种电子设备,包括:
一个或多个处理器;以及
存储器,存储有计算机程序,所述计算机程序在被所述处理器运行时使所述处理器执行根据权利要求1至7中任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序在被处理器运行时使得所述处理器执行如权利要求1至7中任一项所述的方法。
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