[发明专利]一种P型双面PERC太阳电池及其制备方法和应用在审
申请号: | 202110383232.X | 申请日: | 2021-04-09 |
公开(公告)号: | CN113113510A | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 王岚;陈明;李忠涌;李书森;王璞 | 申请(专利权)人: | 通威太阳能(成都)有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/068;H01L31/0224;H01L31/0216 |
代理公司: | 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 | 代理人: | 黄蓉蓉 |
地址: | 610213 四川省成都市双流*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 双面 perc 太阳电池 及其 制备 方法 应用 | ||
1.一种P型双面PERC太阳电池制备方法,其特征在于:包括如下步骤:
S1、将P型硅片清洗、抛光,去除表面机械损伤;
S2、对硅片的背面进行单面硼扩散;
S3、在硅片的背面沉积一层氮化硅保护膜;
S4、对硅片的正面进行清洗制绒;
S5、对硅片进行清洗刻蚀,去除硅片背面的氮化硅保护膜;
S6、将硅片放入LPCVD设备中,通过LPCVD方式在硅片的正面和背面均沉积超薄氧化硅层;接着通过硅烷热分解在硅片正面沉积多晶硅层;随后高温磷扩散掺杂硅片正面的多晶硅层形成掺杂N型多晶硅层,得到形成全面积钝化接触的PN结的硅片;
S7、在硅片的正面沉积氮化硅减反射层;
S8、在硅片的背面沉积一层氧化铝层;
S9、在硅片的背面沉积一层氮化硅薄膜层;
S10、将硅片的正面和背面均制作电极。
2.根据权利要求1所述的一种P型双面PERC太阳电池制备方法,其特征在于:所述S6中,将硅片放入LPCVD设备中,通过LPCVD方式在硅片的正面、背面以及周边均沉积厚度在1.5-3nm的超薄氧化硅层。
3.根据权利要求1所述的一种P型双面PERC太阳电池制备方法,其特征在于:所述S6中,高温磷扩散掺杂硅片正面的多晶硅层形成掺杂N型多晶硅层后,通过退火提高多晶硅的晶化度,并充分激活磷离子得到具有N型多晶硅层,退火温度在780度,将该N型掺杂多晶硅与衬底P型硅,从而得到形成全面积钝化接触的PN结的硅片。
4.根据权利要求1所述的一种P型双面PERC太阳电池制备方法,其特征在于:所述S6中,通过硅烷热分解在硅片正面沉积多晶硅层时,沉积温度为610℃,沉积时间为3-5min,对应的沉积的多晶硅层厚度为20~30nm。
5.根据权利要求1所述的一种P型双面PERC太阳电池制备方法,其特征在于:所述S2中,将S1抛光后的硅片以两两背靠背放置在高温低压扩散炉中,在高温低压扩散炉中进行硼扩散。
6.根据权利要求1所述的一种P型双面PERC太阳电池制备方法,其特征在于:所述S2中,硼扩散的硼源采用三溴化硼,经过S2处理,在硅片背面形成表面薄层方阻在40-80Ω/㎡的P+背场。
7.根据权利要求1所述的一种P型双面PERC太阳电池制备方法,其特征在于:所述S2中的硅片硼扩散处理完成后,将其进行HF清洗,去除表面硼硅玻璃后再进行S3。
8.根据权利要求1所述的一种P型双面PERC太阳电池制备方法,其特征在于:所述S3中,使用PECVD的方式对硅片背面沉积一层氮化硅保护膜,所述氮化硅保护膜的厚度为60-120nm。
9.一种基于权利要求1~8中任一项所述方法制备的P型双面PERC太阳电池。
10.一种基于权利要求1~8中任一项所述方法制备的P型双面PERC太阳电池在太阳能转化为电能中的应用。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的