[发明专利]辐射检测装置及其方法

权利要求书

1.一种辐射检测装置，包括：

探测模块，所述探测模块包括光学室以及安装于所述光学室内的多个光电倍增管；

数据获取模块，所述数据获取模块设置为获取所述多个光电倍增管输出的信号；以及

处理模块，所示处理模块依据所述信号设置α能谱和β能谱信号甄别参数，以进行α/β分离。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述探测模块收集液体闪烁体放射源发射的荧光。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述数据获取模块为数据获取采集卡，对所述探测模块的输出进行采集。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光学室外设有辐射屏蔽层。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述处理模块通过SQL数据库数据表保存测量原始数据。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述处理模块具备α/β甄别功能，通过对FPGA写入脉冲形状处理算法，由信号下降沿表征参数实现。

7.根据权利要1所述的装置，其特征在于，所述处理模块进行实时测量，并及时输出当前符合测量结果。

8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述处理模块将过阈触发、信号定时标签、电荷积分数值以及信号下降沿表征参数存储在SQL数据库数据表中。

9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述数据获取模块还设置为获取三重符合信号以及双重符合相加信号；所述处理模块设置为：

基于三重符合信号的计数率和双重符合相加信号的计数率，获取待测样品的TDCR值，其中，

N_T表示三重符合信号的计数率，N_D表示双重符合相加信号的计数率。

10.一种辐射检测方法，包括：

使用数字采集卡对多个光电倍增管输出的信号进行波形采集；

对采集获得的信号进行处理，依据所述信号设置α能谱和β能谱信号甄别参数，以进行α/β分离。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，采用基于FPGA的数字采集卡对多个光电倍增管输出的信号进行波形采集。

12.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，对FPGA写入脉冲处理程序，对采集信号进行过阈触发处理、信号定时处理、电荷积分处理。

13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述过阈触发处理包括基线计算以触发信号前多个采样平均值作为基线，与预设甄别阈值进行比较，在超过所述预设甄别阈值时触发。

14.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述电荷积分处理包括在极零相消过零点开启积分时间窗，进行信号电荷积分。

15.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述电荷积分处理的积分时间设置长窗和短窗，利用长窗与短窗间的积分差异进行α/β甄别。

16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，所述长窗设置宽度为整个脉冲宽度，通过电荷积分得到脉冲幅度大小，并且所述短窗设置宽度为信号上升沿至下降沿幅度的90％。