[发明专利]一种多点面接触式单动测试探针

说明书

本发明公开了一种多点面接触式单动测试探针，包括：针管；针轴，所述针轴包含针杆，所述针杆滑动设置在所述针管内，针杆的一端设置有第一针头，所述第一针头从所述针管的一端伸出，第一针杆的另一端设置有针尾，所述针尾设置有麻花针；第二针头，所述第二针头设置在针管的另一端，针管内设置有内孔，所述麻花针伸入所述内孔中；弹簧，所述弹簧设置在所述针管内，所述弹簧位于针轴与内孔的外沿之间。该多点面接触式单动测试探针，解决现有探针使用时针轴与针管容易出现接触不良，造成弹簧烧毁的问题。

技术领域

本发明属于半导体检测设备技术领域，具体涉及一种多点面接触式单动测试探针。

背景技术

测试探针广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等技术领域，是一种高端的电子元件。

测试探针的结构通常是由针轴、针管、弹簧三部分组成，针轴和弹簧装在针管内部，在针管两端口运用压铆缩口方式，使得针轴、弹簧保持在针管内部，成为一个整体的结构。使用时，针轴受力向针管内压缩弹簧，此时弹簧产生的弹力顶住针轴，针轴与被测件良好接触，进行测试。

但是现有的测试探针使用时，由于针轴与针管不能稳定接触，在振动环境中，会出现针轴和针管接触不良的情况，此时电流通过针轴和弹簧传输，使得测试探针的接触电阻大，且容易烧毁弹簧，损坏测试设备，不能很好地满足大电流的测试要求。

发明内容

本发明的目的是提供一种多点面接触式单动测试探针，解决现有探针使用时针轴与针管容易出现接触不良，造成弹簧烧毁的问题。

为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案是：一种多点面接触式单动测试探针，包括：

针管；

针轴，所述针轴包含针杆，所述针杆滑动设置在所述针管内，针杆的一端设置有第一针头，所述第一针头从所述针管的一端伸出，第一针杆的另一端设置有针尾，所述针尾设置有麻花针；

第二针头，所述第二针头设置在针管的另一端，针管内设置有内孔，所述麻花针伸入所述内孔中；

弹簧，所述弹簧设置在所述针管内，所述弹簧位于针轴与内孔的外沿之间。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述弹簧套设在麻花针和针尾的外部。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述弹簧为压缩弹簧。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述麻花针由多根导线组合而成，多跟导线两端固定且中间形成有胖点。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述针管的两端形成有收缩口，所述针杆限位在所述收缩口内。

本发明的有益效果是：本发明的一种多点面接触式单动测试探针在使用过程中，无论测试探针的针轴如何位移，麻花针和内孔始终多点有效接触，增大了接触面积，减小了测试探针本身的接触电阻，避免了弹簧被烧毁，进而满足了测试大电流的需要。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明的一种多点面接触式单动测试探针的结构示意图。

图中：1.第一针头，2.针杆，3.针尾，4.弹簧，5.麻花针，6.胖点，7.内孔，8.针管，9.第二针头。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。