[发明专利]地学信息各向异性分布规律分析方法及装置、电子设备

权利要求书

1.一种地学信息各向异性分布规律分析方法，其特征在于，包括：

获取研究区内空间采样点的采样值；

以任一采样点为中心，通过改变方位角，在每种方位角下，构建不同等效半径和压缩系数的多个椭圆窗口；

针对同一方位角下的多个椭圆窗口，根据所述椭圆窗口内所有采样点的样本均值与预设分类阈值的相对差异值，选取所述方位角下的最优椭圆，其中，根据所述研究区内空间采样点的采样值的基本属性确定采样点所在区域内背景与异常分界点，输出背景与异常分类阈值，作为所述预设分类阈值；

根据多种方位角下的最优椭圆，以及所述最优椭圆的等效半径以及所述最优椭圆内所有采样点的样本均值，计算中心的采样点的奇异性指数，包括：

在每种方位角下，筛选与所述最优椭圆压缩系数相同，且等效半径小于等于所述方位角下最优椭圆的等效半径的目标椭圆；

根据每种方位角下，所述目标椭圆内所有采样点的样本均值以及所述目标椭圆的等效半径，构建所述样本均值与所述等效半径之间的双对数投影拟合线性关系；

根据所述线性关系的斜率，计算得到中心的采样点的奇异性指数，得到所述研究区内空间采样点的各向异性分布规律。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据多种方位角下的最优椭圆，以及所述最优椭圆的等效半径以及所述最优椭圆内所有采样点的样本均值，计算中心的采样点的奇异性指数，得到所述研究区内空间采样点的各向异性分布规律之后，所述方法还包括：

对所述研究区内空间各采样点的奇异性指数进行插值运算，获得所述研究区内的各向异性奇异性分布规律。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据多种方位角下的最优椭圆，以及所述最优椭圆的等效半径以及所述最优椭圆内所有采样点的样本均值，计算中心的采样点的奇异性指数，得到所述研究区内空间采样点的各向异性分布规律之前，所述方法还包括：

根据所述最优椭圆内包含的采样点的采样值，计算得到所述最优椭圆的样本均值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据多种方位角下的最优椭圆，以及所述最优椭圆的等效半径以及所述最优椭圆内所有采样点的样本均值，计算中心的采样点的奇异性指数，得到所述研究区内空间采样点的各向异性分布规律，包括：

将所述最优椭圆内所有采样点的样本均值以及所述最优椭圆的等效半径作为奇异性指数计算模型的输入，获得计算中心的采样点的奇异性指数。

5.一种地学信息各向异性分布规律分析装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取研究区内空间采样点的采样值；

构建模块，用于以任一采样点为中心，通过改变方位角，在每种方位角下，构建不同等效半径和压缩系数的多个椭圆窗口；

选择模块，用于针对同一方位角下的多个椭圆窗口，根据所述椭圆窗口内所有采样点的样本均值与预设分类阈值的相对差异值，选取所述方位角下的最优椭圆，其中，根据所述研究区内空间采样点的采样值的基本属性确定采样点所在区域内背景与异常分界点，输出背景与异常分类阈值，作为所述预设分类阈值；

计算模块，用于根据多种方位角下的最优椭圆，以及所述最优椭圆的等效半径以及所述最优椭圆内所有采样点的样本均值，计算中心的采样点的奇异性指数，包括：在每种方位角下，筛选与所述最优椭圆压缩系数相同，且等效半径小于等于所述方位角下最优椭圆的等效半径的目标椭圆；

根据每种方位角下，所述目标椭圆内所有采样点的样本均值以及所述目标椭圆的等效半径，构建所述样本均值与所述等效半径之间的双对数投影拟合线性关系；

根据所述线性关系的斜率，计算得到中心的采样点的奇异性指数，得到所述研究区内空间采样点的各向异性分布规律。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

输出模块，用于对所述研究区内空间各采样点的奇异性指数进行插值运算，获得所述研究区内的各向异性奇异性分布规律。