[发明专利]一种基于双光电探测器的热辐射诊断系统和方法有效
申请号: | 202110390096.7 | 申请日: | 2021-04-12 |
公开(公告)号: | CN113063501B | 公开(公告)日: | 2022-01-25 |
发明(设计)人: | 程芝峰;焦少东;张晓龙;陈志鹏;李琼 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00;G01J5/10 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 陈晓华 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 光电 探测器 热辐射 诊断 系统 方法 | ||
1.一种基于双光电探测器的热辐射诊断系统,其特征在于,包括双光电探测模块、光电流前置放大模块、接口传输模块和采集处理模块;
所述双光电探测模块依次通过所述光电流前置放大模块和所述接口传输模块与所述采集处理模块电连接;
所述双光电探测模块用于获取待诊断等离子体的双探测光电流信号序列;
所述光电流前置放大模块用于将所述双探测光电流信号序列转换为双探测电压信号序列;
所述接口传输模块用于将所述双探测电压信号序列发送至所述采集处理模块;
所述采集处理模块用于根据所述双探测电压信号序列得到探测信号比值序列;对所述待诊断等离子体进行热辐射仿真,得到所述待诊断等离子体的修正系数函数关系;根据所述修正系数函数关系和所述探测信号比值序列,得到所述待诊断等离子体的修正系数值序列;根据所述修正系数值序列对所述双探测电压信号序列进行修正,得到所述待诊断等离子体的热辐射诊断值序列;
所述双光电探测模块包括腔体、设置在所述腔体内部前侧的狭缝以及并列设置在所述腔体内部后侧的AXUV硅光电二极管阵列和SXUV硅光电二极管阵列,且所述AXUV硅光电二极管阵列和所述SXUV硅光电二极管阵列均与所述狭缝的法线垂直;
所述AXUV硅光电二极管阵列用于探测所述待诊断等离子体在每个通道中的AXUV探测光电流信号;
所述SXUV硅光电二极管阵列用于探测所述待诊断等离子体在每个通道中的SXUV探测光电流信号;
所述双探测电压信号序列包括所述待诊断等离子体在每个通道中的AXUV探测电压信号和SXUV探测电压信号。
2.根据权利要求1所述的基于双光电探测器的热辐射诊断系统,其特征在于,所述AXUV硅光电二极管阵列和所述SXUV硅光电二极管阵列均与所述光电流前置放大模块电连接;
所述光电流前置放大模块具体用于分别将每个AXUV探测光电流信号转换为对应的AXUV探测电压信号;还具体用于将每个SXUV探测光电流信号转换为对应的SXUV探测电压信号;
所述接口传输模块具体用于将所有AXUV探测电压信号和所有SXUV探测电压信号均发送至所述采集处理模块;
所述采集处理模块具体用于:
根据每个通道中的AXUV探测电压信号和SXUV探测电压信号,分别计算得到每个通道中的探测信号比值;根据所有通道中的探测信号比值得到所述探测信号比值序列。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110390096.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。