[发明专利]涨缩平移方法有效

专利信息
申请号: 202110396116.1 申请日: 2021-04-13
公开(公告)号: CN113115518B 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 向超;赵刚俊;王洪府;余梦星;何思良;黄俊辉 申请(专利权)人: 生益电子股份有限公司
主分类号: H05K3/00 分类号: H05K3/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 牛亭亭
地址: 523127 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 平移 方法
【权利要求书】:

1.一种涨缩平移方法,其特征在于,包括如下步骤:

将测量板划分为多个分区区域,及将每个分区区域划分为多个分区单元;

计算每个分区区域的涨缩值,及计算每个分区单元的涨缩值;

依据每个分区区域的涨缩值,分别对每个分区区域对应的钻带和线路图形进行整体平移;

依据每个分区单元的涨缩值,分别对每个整体平移后的分区区域内的每个分区单元对应的钻带和线路图形进行独立平移。

2.如权利要求1所述的涨缩平移方法,其特征在于,所述将测量板划分为多个分区区域,具体包括:

以所述测量板的中心点为坐标原点建立第一直角坐标系,所述第一直角坐标系包括相互正交的第一X轴和第一Y轴;

所述第一X轴和第一Y轴将所述测量板划分形成四个分区区域,且每一分区区域对应所述第一直角坐标系的一个象限。

3.如权利要求2所述的涨缩平移方法,其特征在于,每一分区区域包括两第一横边和两第一纵边,两所述第一横边和第一X轴相互平行,两所述第一纵边和第一Y轴相互平行,两所述第一横边和两第一纵边共同围成矩形的所述分区区域,所述计算每个分区区域的涨缩值,具体包括:

分别测量当前分区区域的两所述第一横边和两所述第一纵边的实际长度;

分别计算两所述第一横边的实际长度与对应理论尺寸的差值,以分别获得两所述第一横边的涨缩值,及分别计算两所述第一纵边的实际长度与对应理论尺寸的差值,以分别获得两所述第一纵边的涨缩值;

计算两所述第一横边涨缩值的平均值,得到当前分区区域在第一X轴方向上的涨缩值,及计算两所述第一纵边涨缩值的平均值,得到当前分区区域在第一Y轴方向上的涨缩值。

4.如权利要求3所述的涨缩平移方法,其特征在于,所述依据每个分区区域的涨缩值,分别对每个分区区域对应的钻带和线路图形进行整体平移,具体包括:

计算当前分区区域在第一X轴方向上的涨缩值与第一预设阈值的差值,及计算当前分区区域在第一Y轴方向上的涨缩值与第一预设阈值的差值;

依据当前分区区域在第一X轴方向上的涨缩值与第一预设阈值的差值,以当前分区区域在第一X轴方向上的涨缩值的一半作为平移量,沿第一X轴方向对当前分区区域对应的钻带和线路图形进行整体平移,及依据当前分区区域在第一Y轴方向上的涨缩值与第一预设阈值的差值,以当前分区区域在第一Y轴方向上的涨缩值的一半作为平移量,沿第一Y轴方向对当前分区区域对应的钻带和线路图形进行整体平移。

5.如权利要求2所述的涨缩平移方法,其特征在于,所述分区区域包括多条分区区域线段,所有分区区域线段依次首尾相连围成所述分区区域,所述计算每个分区区域的涨缩值,具体包括:

分别测量当前分区区域所有分区区域线段在第一X轴方向上和第一Y轴方向上投影的实际长度;

分别计算当前分区区域每一分区区域线段在第一X轴方向上投影的实际长度与理论投影长度的差值,以分别获得每一分区区域线段在第一X轴方向上投影的涨缩值,及分别计算当前分区区域每一分区区域线段在第一Y轴方向上投影的实际长度与理论投影长度的差值,以分别获得每一分区区域线段在第一Y轴方向上投影的涨缩值;

计算当前分区区域所有分区区域线段在第一X轴方向上投影的涨缩值的平均值,得到当前分区区域在第一X轴方向上的涨缩值,及计算当前分区区域所有分区区域线段在第一Y轴方向上投影的涨缩值的平均值,得到当前分区区域在第一Y轴方向上的涨缩值。

6.如权利要求1所述的涨缩平移方法,其特征在于,所述将每个分区区域划分为多个分区单元,具体包括:

以当前分区区域的中心点为坐标原点建立第二直角坐标系,所述第二直角坐标系包括相互正交的第二X轴和第二Y轴;

将当前分区区域呈纵横的划分为多个矩阵排列的矩形状的分区单元,每一分区单元落入所述第二直角坐标系对应的象限内。

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