[发明专利]cREO上方的外延层中的局部应变场在审

专利信息
申请号: 202110397728.2 申请日: 2021-04-14
公开(公告)号: CN113540337A 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: A·克拉克;R·佩尔策尔;R·哈蒙德 申请(专利权)人: IQE公开有限公司
主分类号: H01L41/047 分类号: H01L41/047;H01L41/09;H01L41/27;G10K11/04;G10K11/28;G10K11/36
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 宋岩
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: creo 上方 外延 中的 局部 应变
【权利要求书】:

1.一种用于声波的传输的层状结构(100),所述层状结构(100)包括:

基板层(102);

在基板层(102)上方的第二层(104),其中,第二层(104)包括彼此相邻的多个离散部分(105),所述多个离散部分(105)中的每个离散部分(105)包括第一子区域(104A)和第二子区域(104B);以及

外延层(108),生长在第二层(104)上方,用于外延层(108)的主平面中的声波的传输,

其中,要通过外延层(108)传输的声波的波长的周期(λ)近似等于第一子区域(104A)的宽度(dA)与第二子区域(104B)的宽度(dB)之和。

2.根据权利要求1所述的层状结构(100),其中,第一子区域(104A)选自包括无孔硅、多孔硅、结晶稀土氧化物(cREO)及其组合的组;以及

其中,第二子区域(104B)选自包括无孔硅、多孔硅、结晶稀土氧化物(cREO)及其组合的组。

3.根据权利要求1或2所述的层状结构(100),其中,外延层(108)是半导体层(508)、RE-III-N层(608)、外延金属层(708)、结晶稀土氧化物(cREO)层(808)和硅层(908)中的一个。

4.根据任何前述权利要求所述的层状结构(100),其中,基板(120)包括选自包括硅(Si)、锗(Ge)、绝缘体上硅(SOI)和SiGe的组中的一个或多个IV族元素。

5.根据任何前述权利要求所述的层状结构(100),还包括设置在外延层(108)上方的电极(112),其中,电极(112)基于第二层(104)的周期(λ)而分布。

6.一种形成用于声波的传输的层状结构(100)的方法,所述方法包括:

提供基板层(102);

刻蚀基板层(102)的表面,以在基板层(102)上方形成第二层(104),第二层(104)包括彼此相邻的多个离散部分(105),所述多个离散部分(105)中的每个离散部分(105)包括第一子区域(104A)和第二子区域(104B),其中,第一子区域(104A)形成空隙;

将材料沉积到第二层(104)的第一子区域(104A)的空隙中,以在第二层(104)中形成局部应力;以及

在第二层(104)上方生长外延层(108),用于声波的传输,

其中,当要通过外延层(108)传输声波时,声波的波长的周期(λ)与第一子区域(104A)的宽度(dA)和第二子区域(104B)的宽度(dB)之和匹配。

7.根据权利要求6所述的方法,还包括:

利用阳极刻蚀处理第二层(104)的第二子区域(104B),以使第二子区域是多孔的。

8.根据权利要求6或7所述的方法,其中,将外延材料生长到第二层(104)的第一子区域(104A)中包括生长选自包括无孔硅、多孔硅、结晶稀土氧化物(cREO)及其组合的组中的材料。

9.根据权利要求6至8中任一项所述的方法,其中,在第二层(104)上方生长外延层(108)包括生长半导体层(508)、RE-III-N层(608)、外延金属层(708)、结晶稀土氧化物(cREO)层(808)和硅层(908)中的一个。

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