[发明专利]cREO上方的外延层中的局部应变场在审
申请号: | 202110397728.2 | 申请日: | 2021-04-14 |
公开(公告)号: | CN113540337A | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | A·克拉克;R·佩尔策尔;R·哈蒙德 | 申请(专利权)人: | IQE公开有限公司 |
主分类号: | H01L41/047 | 分类号: | H01L41/047;H01L41/09;H01L41/27;G10K11/04;G10K11/28;G10K11/36 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 宋岩 |
地址: | 英国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | creo 上方 外延 中的 局部 应变 | ||
1.一种用于声波的传输的层状结构(100),所述层状结构(100)包括:
基板层(102);
在基板层(102)上方的第二层(104),其中,第二层(104)包括彼此相邻的多个离散部分(105),所述多个离散部分(105)中的每个离散部分(105)包括第一子区域(104A)和第二子区域(104B);以及
外延层(108),生长在第二层(104)上方,用于外延层(108)的主平面中的声波的传输,
其中,要通过外延层(108)传输的声波的波长的周期(λ)近似等于第一子区域(104A)的宽度(dA)与第二子区域(104B)的宽度(dB)之和。
2.根据权利要求1所述的层状结构(100),其中,第一子区域(104A)选自包括无孔硅、多孔硅、结晶稀土氧化物(cREO)及其组合的组;以及
其中,第二子区域(104B)选自包括无孔硅、多孔硅、结晶稀土氧化物(cREO)及其组合的组。
3.根据权利要求1或2所述的层状结构(100),其中,外延层(108)是半导体层(508)、RE-III-N层(608)、外延金属层(708)、结晶稀土氧化物(cREO)层(808)和硅层(908)中的一个。
4.根据任何前述权利要求所述的层状结构(100),其中,基板(120)包括选自包括硅(Si)、锗(Ge)、绝缘体上硅(SOI)和SiGe的组中的一个或多个IV族元素。
5.根据任何前述权利要求所述的层状结构(100),还包括设置在外延层(108)上方的电极(112),其中,电极(112)基于第二层(104)的周期(λ)而分布。
6.一种形成用于声波的传输的层状结构(100)的方法,所述方法包括:
提供基板层(102);
刻蚀基板层(102)的表面,以在基板层(102)上方形成第二层(104),第二层(104)包括彼此相邻的多个离散部分(105),所述多个离散部分(105)中的每个离散部分(105)包括第一子区域(104A)和第二子区域(104B),其中,第一子区域(104A)形成空隙;
将材料沉积到第二层(104)的第一子区域(104A)的空隙中,以在第二层(104)中形成局部应力;以及
在第二层(104)上方生长外延层(108),用于声波的传输,
其中,当要通过外延层(108)传输声波时,声波的波长的周期(λ)与第一子区域(104A)的宽度(dA)和第二子区域(104B)的宽度(dB)之和匹配。
7.根据权利要求6所述的方法,还包括:
利用阳极刻蚀处理第二层(104)的第二子区域(104B),以使第二子区域是多孔的。
8.根据权利要求6或7所述的方法,其中,将外延材料生长到第二层(104)的第一子区域(104A)中包括生长选自包括无孔硅、多孔硅、结晶稀土氧化物(cREO)及其组合的组中的材料。
9.根据权利要求6至8中任一项所述的方法,其中,在第二层(104)上方生长外延层(108)包括生长半导体层(508)、RE-III-N层(608)、外延金属层(708)、结晶稀土氧化物(cREO)层(808)和硅层(908)中的一个。
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