[发明专利]一种测试MOS管SOA特性的系统及方法

权利要求书

1.一种测试MOS管SOA特性的系统，其特征在于，所述系统包括：PC控制器、示波器、被测MOS管、电源以及电子负载仪，所述被测MOS管的输入端与电源连接，所述MOS管的输出端通过负载线与电子负载仪连接，所述被测MOS管还通过探棒与示波器连接，所述PC控制器分别通过USB-GPIB线与电子负载仪、电源以及示波器连接；

所述PC控制器，用于存储被测MOS管的SOA SPEC数据，控制电源的输出开断，控制电子负载仪调节输出电流和短路操作，控制示波器执行抓图和卡取采样，以及根据采样结果和SOA SPEC数据生成测试结果。

2.根据权利要求1所述的一种测试MOS管SOA特性的系统，其特征在于，所述示波器的CH1输入端用于采集MOS管的V_VDS，所述示波器的CH2输入端用于采集MOS管中输入采样电阻两端的电压V_Sensor。

3.根据权利要求2所述的一种测试MOS管SOA特性的系统，其特征在于，所述输入采样电阻为精密电阻。

4.根据权利要求1-3中任一所述的一种测试MOS管SOA特性的系统，其特征在于，所述PC控制器包括：

存储模块，用于存储被测MOS管的SOA SPEC数据；

电源控制模块，用于控制电源的输出开断；

电子负载仪控制模块，用于控制电子负载仪调节输出电流和短路操作；

示波器控制模块，用于控制示波器执行抓图和卡取采样；

计算模块，用于根据采样结果计算采样电阻两端的电流；

绘制模块，用于比对采样电阻两端的电流和SOA SPEC数据，并根据比对结果绘制曲线。

5.根据权利要求4所述的一种测试MOS管SOA特性的系统，其特征在于，所述示波器控制模块包括：

满载上电示波器抓图控制单元，用于抓取V_VDS下降沿时间间隔内开始触发和触发结束时的截图；

满载上电示波器卡取采样控制单元，用于在V_VDS下降沿时间间隔内，每隔设定的时间Δt进行一次卡取采样，其中，Δt＝(t2-t1)/n，t2为示波器V_VDS下降沿触发结束时刻，t1为示波器V_VDS下降沿开始触发时刻，n为卡取采样的数量；

短路掉电示波器抓图控制单元，用于抓取电流脉冲时间间隔内开始触发和触发结束时的截图；

短路掉电示波器卡取采样控制单元，用于分别在每个电流脉冲时间间隔内，每隔设定的时间Δt2进行一次卡取采样，其中，Δt2＝(t4-t3)/m，t4为示波器电流脉冲结束时刻，t3为示波器电流脉冲开始时刻，m为卡取采样的数量，电流脉冲的数量为一个或多个。

6.一种测试MOS管SOA特性的方法，其特征在于，所述方法包括：

获取MOS管的SOA SPEC数据；

根据所获取的命令和MOS管的SOA SPEC数据，对被测MOS管进行满载上电SOA测试；

根据所获取的命令和MOS管的SOA SPEC数据，对被测MOS管进行短路掉电SOA测试。