[发明专利]一种智能卡封装设备及其控制方法有效
申请号: | 202110403741.4 | 申请日: | 2021-04-15 |
公开(公告)号: | CN113241306B | 公开(公告)日: | 2022-07-01 |
发明(设计)人: | 郭喜伦;李练;吴康生 | 申请(专利权)人: | 深圳市正达飞智能卡有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L21/67 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 智能卡 封装 设备 及其 控制 方法 | ||
1.一种智能卡封装设备,其特征在于:包括机架(1)、设于机架(1)上的压实机构(2),所述机架(1)上设有卡片加工工位(11),所述压实机构(2)包括定位块(21)以及驱动定位块(21)沿竖直方向朝靠近或远离卡片加工工位(11)移动的驱动组件;所述定位块(21)靠近卡片加工工位(11)一侧设有若干抵压块(22),所述定位块(21)上设有驱动抵压块(22)朝向卡片加工工位(11)移动的伸缩件,所述抵压块(22)远离定位块(21)的侧面设有压力传感器;所述定位块(21)下端面的几何中心设有固定块(211),所述固定块(211)抵压于芯片中部,所述抵压块(22)抵接于芯片的四个边角位置;所述固定块(211)侧壁设有燕尾槽(213),所述抵压块(22)侧壁设有与燕尾槽(213)插接配合的燕尾块(221);所述伸缩件设置在抵压块(22)与定位块(21)之间,所述伸缩件为第三气缸,第三气缸的伸缩轴沿所述抵压块(22)的滑动方向伸缩,且连接于所述抵压块(22);当抵压块(22)抵压于芯片表面时,压力传感器接收抵压块(22)对芯片的压力值,并传送至预设于封装设备内的控制器,若压力值不在正常范围内,控制器控制伸缩件伸缩调节抵压块(22)的位置。
2.根据权利要求1所述的一种智能卡封装设备,其特征在于:所述机架(1)位于卡片加工工位(11)的一侧设有校准工位,所述校准工位设有水平设置的校准平板(12),所述机架(1)位于校准工位与卡片加工工位(11)之间设有滑轨,所述压实机构(2)包括沿滑轨移动的安装箱,所述定位块(21)设于安装箱上,所述校准平板(12)位于抵压块(22)的下方。
3.根据权利要求2所述的一种智能卡封装设备,其特征在于:所述固定块(211)的侧壁向外延伸有延伸部(212),延伸部(212)与固定块(211)配合呈十字型,所述抵压块(22)位于固定块(211)形成的四个夹角处,所述抵压块(22)与固定块(211)配合形成适配芯片的形状。
4.根据权利要求3所述的一种智能卡封装设备,其特征在于:所述固定块(211)靠近卡片加工工位(11)的一侧设有覆盖抵压块(22)的橡胶软垫(215)。
5.根据权利要求4所述的一种智能卡封装设备,其特征在于:所述固定块(211)靠近卡片加工工位(11)的一侧设有真空槽(214),所述真空槽(214)的侧壁通过软管连接有第一抽气泵(216)、通过另一软管连接有送风泵(217),所述橡胶软垫(215)上设有与真空槽(214)过盈配合的橡胶连接柱(2151)。
6.根据权利要求1所述的一种智能卡封装设备,其特征在于:所述机架(1)位于滑轨的下方设有更换工位,所述更换工位上设有承接橡胶软垫(215)的更换平板(13),所述更换平板(13)设有若干抽气孔(132),所述更换平板(13)上设有连接抽气孔(132)的第二抽气泵(134),所述更换平板(13)位于滑轨的下方设有上料口(131)。
7.根据权利要求6所述的一种智能卡封装设备,其特征在于:所述更换平板(13)的一侧设有推板(14),所述更换平板(13)设有驱动推板(14)水平移动的推料件(141),所述更换工位设于推料件(141)的移动路径上。
8.根据权利要求3所述的一种智能卡封装设备,其特征在于:所述固定块(211)的侧壁向外延伸有安装杆(218),所述安装杆(218)上设有朝向卡片加工工位(11)的红外传感器(219),所述红外传感器(219)的发射端对应预设于卡片表面的定位凸块。
9.一种智能卡封装设备的控制方法,其特征在于,配合使用于权利要求1-8之一所述的一种智能卡封装设备,包括以下步骤:
获取压力传感器的压力检测信号,所述压力检测信号设有对应抵压块的唯一编号;
比较压力检测信号与预设压力值,若某一编号的压力检测信号偏离预设压力值超出预设范围,则控制当前编号的抵压块对应的伸缩件伸缩,以调节当前抵压块的位置。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,存储有能够被处理器加载并执行如权利要求9中所述 方法的计算机程序。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造