[发明专利]一种化学机械抛光设备及其晶圆缓存装置和晶圆缓存方法在审

专利信息
申请号: 202110407074.7 申请日: 2021-04-15
公开(公告)号: CN113130360A 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 杨渊思 申请(专利权)人: 杭州众硅电子科技有限公司
主分类号: H01L21/673 分类号: H01L21/673;H01L21/677
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 311305 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 化学 机械抛光 设备 及其 缓存 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种晶圆缓存装置,其特征在于,所述晶圆缓存装置包含:缓存箱体,设置在所述缓存箱体上的驱动组件,以及连接所述驱动组件并设置在所述缓存箱体内的晶圆存储组件;所述驱动组件驱动所述晶圆存储组件在所述缓存箱体内做升降运动,以实现所述晶圆存储组件上的晶圆离开或进入缓存箱体内的水环境。

2.如权利要求1所述的晶圆缓存装置,其特征在于,所述驱动组件设置在所述缓存箱体外部或内部。

3.如权利要求1所述的晶圆缓存装置,其特征在于,所述晶圆存储组件包含:固定连接所述驱动组件的晶圆支架,以及固定连接所述晶圆支架的至少两个晶圆座。

4.如权利要求3所述的晶圆缓存装置,其特征在于,所述晶圆座上下平行间隔排布。

5.如权利要求3所述的晶圆缓存装置,其特征在于,所述晶圆缓存装置还包含箱盖,其固定连接所述驱动组件,并位于所述晶圆座的上方,所述箱盖的尺寸与所述缓存箱体的开口尺寸匹配。

6.如权利要求1所述的晶圆缓存装置,其特征在于,所述缓存箱体上设置给排水口和溢水口。

7.如权利要求1所述的晶圆缓存装置,其特征在于,所述晶圆缓存装置还包含机械手,以配合缓存装置使用,所述机械手至少包含升降、水平移动2个自由度。

8.如权利要求7所述的晶圆缓存装置,其特征在于,所述晶圆座包含缺口,所述缺口与机械手的方向一致。

9.一种化学机械抛光设备,其特征在于,包含:

抛光单元,其用于对晶圆进行抛光处理;

清洗单元,其用于对抛光后的晶圆进行清洗处理;

至少一个如权利要求1-8中任意一项所述的晶圆缓存装置,其设置在所述抛光单元和所述清洗单元之间,用于缓存晶圆,使晶圆处于长时间的水环境保护。

10.如权利要求9所述的化学机械抛光设备,其特征在于,所述晶圆缓存装置还包含中转机械手,用于实现对所述晶圆缓存装置进行晶圆抓取及放置作业。

11.如权利要求10所述的化学机械抛光设备,其特征在于,所述中转机械手包含:旋转轴、机械手臂、以及夹爪,所述夹爪通过所述机械手臂安装于所述旋转轴上,所述旋转轴提供绕Z轴旋转和Z向升降两个自由度,所述机械手臂带动所述夹爪在水平X向移动。

12.一种用于如权利要求9-11中任意一项所述的化学机械抛光设备的晶圆缓存方法,其特征在于,驱动组件驱动晶圆存储组件从缓存箱体内升起,晶圆座离开缓存箱体内的水环境;采用机械手将晶圆放置入晶圆座,或采用机械手从晶圆座抓取晶圆;驱动组件驱动晶圆存储组件降入缓存箱体内,晶圆座进入缓存箱体内的水环境。

13.如权利要求12所述的晶圆缓存方法,其特征在于,所述机械手为清洗区机械手,或抛光区机械手,或中转机械手。

14.如权利要求12所述的晶圆缓存方法,其特征在于,按照从上至下的顺序从晶圆缓存装置的晶圆座中抓取晶圆,率先抓取最上层的晶圆座中的晶圆,下层未被抓取晶圆的晶圆座仍然处于缓存箱体内的水环境中。

15.如权利要求12所述的晶圆缓存方法,其特征在于,按照从下至上的顺序将晶圆放置入晶圆缓存装置的晶圆座中,率先将晶圆放置入最下层的晶圆座中,已经放置晶圆的晶圆座下降进入缓存箱体内的水环境。

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