[发明专利]一种中低电压电源测试用有源负载有效
申请号: | 202110407093.X | 申请日: | 2021-04-15 |
公开(公告)号: | CN113109611B | 公开(公告)日: | 2022-09-13 |
发明(设计)人: | 郭建平 | 申请(专利权)人: | 歌瑞宇航电子(天津)有限公司 |
主分类号: | G01R1/36 | 分类号: | G01R1/36;G01R31/40 |
代理公司: | 北京中企鸿阳知识产权代理事务所(普通合伙) 11487 | 代理人: | 苏艳 |
地址: | 300000 *** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电压 电源 测试 有源 负载 | ||
本发明提出了一种中低电压电源测试用有源负载,包括:电源模块的输出端与所述电压转换模块的输入端连接,所述电压转换模块的输出端与有源负载连接,用于将来自所述电源模块的电源电压分别进行升压和降压操作,以转换为两路恒定电压;所述有源负载的输出端与所述MOS管的漏极连接,所述MOS管的源极与所述恒流源负载的输入端连接;其中,将全部负载功率动态的分配给所述MOS管和恒流源负载,在低电流时,负载由所述MOS管和恒流源负载担负;随着负载功率的增加,功率负载由所述MOS管向所述恒流源负载过渡直至担负大部分负载功率。
技术领域
本发明涉及电子电路技术领域,特别涉及一种中低电压电源测试用有源负载。
背景技术
几乎所有的电源产品测试都需要进行负载测试,以确保电源的输出电压和电流在规定的负载范围内(无负载到最大负载)符合相应的规范。测试所使用的负载通常有两种既无源负载和有源负载。
无源负载可以是简单的固定值电阻。使用简单的固定电阻可以测试指定的功率并进行老化测试,当需要不同的负载值时,需要通过人工来调节或更换。无源负载的一个明显的弱点是无法对电源进行动态测试,因此造成电源产品的完整性参数测试的缺失。
有源负载是可以设定等量固定电阻的电子设备,在设定的电阻上,它等价于固定负载,同时,通过手动或软件编程可以进行快速、连续和线性的调节。通过开关控制可以继行动态测试,比如暂态响应测试。比如电池的放电和放电测试需要指定放电参数,以免电池受到伤害,比如恒流放电、定时放电、过压自停等等,当然这需要电子负载具有条件触发功能,如定时触发、累计值触发、参数阀值触发等等。在电子测试设备领域中,有源负载用于是电源自动测试的有效工具。图1为现有常用的有源负载是恒流式负载。
在恒流模式下,当VREF电压固定时,无论输入电压VCC是否改变,经过Q1和Rs的负载电流都是恒定的。其原理是利用MOS管的线性区,把它当作可变电阻来调节和改变负载电流。MOS管在恒流区(即放大状态)内,在Vgs一定时,Id不随Vds的变化而变化,这样就实现了MOS管输出回路的电流恒定。在实际当中,通过运放对MOS管进行驱动和电压控制,也就是实现了电压-电流的转换。
但是上述技术方案存在以下技术局限:虽然上述电路可以实现有源负载的功能,但技术缺陷和局限也是明显的,主要有二。一是功率MOS器件的温度和散热;二是被测电源的电压不能太低。
作为功率耗损、有源负载与普通电阻完全一样,既电源的电能都会转换成负载上的热能,在没有或散热有限时,功率MOS器件的温度很容易上升到100℃。因此有源负载中需要使用大功率MOSFET并附带散热装置以承受温度升高。这样做的结果就是有源负载的体积大幅度增大。再者,如果功率MOS器件是直接焊接在PCB上,PCB的温度同样也会升高,这将导致整体电路的可靠性和寿命的降低。
由于技术和设计的原因,在一定的负载电流条件下,VCC电压不能太低,这意味着低电压的电源测试受到限制。在嵌入式和高速通讯的设计中存在着大量的的低电压电源,比如USB电源,Ethernet PHY电源,FPGA和SoC等等需要1V到1.8V电源其输出电流可能需要几个安培。对于这些电源,鲜有体积、性能和价格都合适的有源负载。
发明内容
本发明的目的旨在至少解决所述技术缺陷之一。
为此,本发明的目的在于提出一种中低电压电源测试用有源负载。
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