[发明专利]一种基于多CMOS传感器的图像编码方法及装置

说明书

本发明提出了一种基于多CMOS传感器的图像编码方法及装置，该方法包括：获取N个CMOS传感器对同一对象的各个像素电压；确定N个CMOS传感器中的一个CMOS传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压；对该对象的各个像素的基准电压进行检测，查找出存在缺陷的基准电压；基于剩余N‑1个CMOS传感器采集的该对象的各个像素电压对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压；将该对象的基准电压及校正后的基准电压使用数字信号处理器编码为数字图像。其使用多个CMOS传感器中的最优的一个传感器采集的电压作为基准电压，并使用其他传感器采集的电压最该基准电压中存在缺陷的电压进行校正，然后编码得到数字图像，从而提高图像的质量。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种基于多CMOS传感器的图像编码方法及装置。

背景技术

COMS传感器中，由于在像元结构中集成了多个功能晶体管的原因，CMOS图像传感器也存在着若干缺点，主要是噪声影响图像质量。现有技术中，对图像质量的改善主要是在图像生成后，采用图像处理算法解决生成的图像的缺陷。

图像后期的处理算法，由于生成了像素值，一般为RGB等，再进行处理时，处理效率低下，且处理后的图像不自然，或者生成的图像会显示有修图（即人工更改）的痕迹，这是很多人不愿意看到的。

现有技术中，也有基于多个摄像头采集的图像进行合成或修复的技术，但也是在生成图像后进行的后期处理，同样存在上述缺陷。

发明内容

本发明针对上述现有技术中一个或多个技术缺陷，提出了如下技术方案。

一种基于多CMOS传感器的图像编码方法，该方法包括：

获取步骤S1，获取N个CMOS传感器对同一对象的各个像素电压；

确定步骤S2，确定N个CMOS传感器中的一个CMOS传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压；

检测步骤S3，对该对象的各个像素的基准电压进行检测，查找出存在缺陷的基准电压；

校正步骤S4，基于剩余N-1个CMOS传感器采集的该对象的各个像素电压对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压；

编码步骤S5，将该对象的基准电压及校正后的基准电压使用数字信号处理器编码为数字图像。

更进一步地，所述确定步骤S2的操作为：

对于每一个CMOS传感器X，使用滑动窗口计算该窗口中的异常像素电压的个数sumwx，当该对象的所有像素电压使用滑动窗口扫描完毕后计算该CMOS传感器X采集的异常像素电压的总个数sumx，将sumx值最小的CMOS传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压，其中，异常像素电压的判断方式为：，且，如果不成立，该窗口中的所有像素的电压都为异常，即m*n个像素的电压均异常，其中，m、n为滑动窗口的参数，m*n表示滑动窗口的大小，为滑动窗口内坐标为i、j的像素的电压，为该滑动窗口内所有像素电压的均值，sumx为使用滑动窗口对所有像素的电压扫描完毕后所有的sumwx的和，其中，1≤X≤N，th1、th2为第一阈值、第二阈值。

更进一步地，所述检测步骤S3的操作为：计算每一像素的基准电压与周围所有相邻像素差分值之和，如果所述差分值之和大于第三阈值，则该像素的基准电压为存在缺陷的基准电压。

更进一步地，所述校正步骤S4的操作为：