[发明专利]检测方解石含量的方法和预设模型的建设方法在审
申请号: | 202110408844.X | 申请日: | 2021-04-16 |
公开(公告)号: | CN113125353A | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 张弘;郭东旭;回广骥;高鹏鑫;史维鑫 | 申请(专利权)人: | 自然资源实物地质资料中心 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G01N21/3563;G16C60/00 |
代理公司: | 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 | 代理人: | 牛晴 |
地址: | 100089 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 方解石 含量 方法 预设 模型 建设 | ||
本发明涉及一种检测方解石含量的方法,包括:获取被测样品的热红外光谱数据;根据热红外光谱数据确定出被测样品在预设波段的反射峰的相对深度;将相对深度代入预设模型,得到被测样品的方解石含量。基于此,本申请在检测方解石含量时,只需获取被测样品的热红外光谱数据,使得本申请不会损坏被检测样品,且检测成本低,可批量检测。
技术领域
本发明涉及热红外光谱数据解译与应用技术领域,具体涉及一种检测方解石含量的方法和预设模型的建设方法。
背景技术
方解石是最为常见的碳酸盐矿物,在自然界中分布广泛,是构成石灰岩和大理岩的主要造岩矿物,也是热液矿床中重要的脉石矿物,广泛应用于人造地砖、橡胶、塑料、造纸、涂料、油漆、油墨、电缆、建筑用品、食品、医药、纺织、饲料、牙膏等日用化工行业。
相关技术通过X射线衍射(X-ray diffraction,XRD)方法检测岩石中的方解石含量。然而通过XRD检测方法检测岩石中方解石含量会对被检测样品产生损坏,且检测成本高,不可批量检测。
发明内容
有鉴于此,为了在一定程度上解决相关技术存在的问题,本申请提供一种检测方解石含量的方法和预设模型的建设方法。
本发明采用如下技术方案:
参看本申请的第一方面,本申请提供了一种检测方解石含量的方法,包括:
获取被测样品的热红外光谱数据;
根据所述热红外光谱数据确定出所述被测样品在预设波段的反射峰的相对深度;
将所述相对深度代入预设模型,得到所述被测样品的方解石含量。
进一步的,所述预设波段为波长在13970-14200nm的波段。
参看本申请的第二方面,本申请提供了一种预设模型的建设方法,包括:
获取多组目标实验样品;每组所述实验样品中包含一个岩心柱筛样和与所述岩心柱筛样对应的薄片样;
获取各所述岩心柱筛样的热红外光谱数据;
根据各所述岩心柱筛样的热红外光谱数据对应确定出各所述岩心柱筛样在预设波段的反射峰的相对深度;
确定出各所述薄片样的方解石含量;
根据所述相对深度和所述方解石含量建立预设模型。
进一步的,获取一组目标实验样品,包括:
通过钻机获取一个目标柱塞样;
切割所述柱塞样的预设位置,得到所述岩心柱筛样和未处理薄片样;
对所述未处理薄片样进行预设处理,得到所述薄片样。
进一步的,所述对所述未处理薄片样进行预设处理,包括:
对所述未处理薄片样依次进行洗油、洗盐、烘干、抽真空注胶、机械抛光、氩离子抛光和喷碳处理。
进一步的,所述获取各所述岩心柱筛样的热红外光谱数据,包括:
通过热红外光谱仪向所述岩心柱筛样的目标检测端面发射波段为2500-15000nm的红外线,以获取所述热红外光谱数据。
进一步的,所述根据各所述岩心柱筛样的热红外光谱数据对应确定出各所述岩心柱筛样在预设波段的反射峰的相对深度,包括:
将各所述岩心柱筛样的热红外光谱数据进行归一化处理;
对归一化处理后的热红外光谱数据进行预设波段包络线剔除;
基于剔除包络线的热红外光谱数据对应确定出所述相对深度。
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