[发明专利]一种预测永磁体服役性能的方法

说明书

本发明公开了一种预测永磁体服役性能的方法，通过建立永磁体的退磁量h_irr与时间的数学模型，来预测永磁体长期服役过程中的磁性能变化情况，所建立的数学模型具体为：其中，H_f表示永磁体在某一温度T下的热激活场；代表永磁体器件的形状因子；M(t₀)表示永磁体初始t₀时刻的磁化强度；t₀为初始时刻；t为待预测时刻。该方法能准确预测永磁体长期服役过程中的性能变化情况，大大缩短磁体寿命检测时间，使新牌号或新成分永磁体能快速投入到实际应用过程中。

技术领域

本发明涉及永磁体性能技术领域，尤其涉及一种预测永磁体服役性能的方法。

背景技术

永磁材料作为一种重要的功能材料，在各个领域中发挥着不可替代的重要作用。永磁材料的具体应用过程中，人们不仅希望其能够拥有良好的磁性能，而且还希望该材料能够在长期使用过程中为设备提供一个稳定可靠的磁场环境，否则一旦永磁体的性能发生太大变化，器件可能会出现问题导致整个设备的精度降低甚至造成设备的损坏。通过不断研究，人们克服了许多影响磁体稳定性的因素，但是磁体的退磁依然存在，即永磁材料的时间稳定性，而这个问题也是永磁材料应用性研究不可忽略的重要环节。

现有技术的磁粘滞理论模型认为磁通损失与时间的对数呈线性变化关系，之后虽然证明理论与实验的结果一致，但是到目前为止两者并不能合理有效的结合起来，当前永磁体在服役过程中，其磁性能变化情况的判断方法一般是通过长期模拟环境实验，记录永磁体在不同时间点的性能，通过长时间的数据积累，对大量数据进行拟合，然后依据拟合结果判断同类型永磁体在服役过程中性能的变坏情况，上述方法需要消耗大量的时间，不利于新牌号或新成分永磁体快速投入到实际应用过程中。

发明内容

本发明的目的是提供一种预测永磁体服役性能的方法，该方法能准确预测永磁体长期服役过程中的性能变化情况，大大缩短磁体寿命检测时间，使新牌号或新成分永磁体能快速投入到实际应用过程中。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

一种预测永磁体服役性能的方法，所述方法包括：

通过建立永磁体的退磁量h_irr与时间的数学模型，来预测永磁体长期服役过程中的磁性能变化情况，所建立的数学模型具体为：

其中，H_f表示永磁体在某一温度T下的热激活场；代表永磁体器件的形状因子；M(t₀)表示永磁体初始t₀时刻的磁化强度；t₀为初始时刻；t为待预测时刻；

利用上述公式，通过测量并计算出待预测永磁体在某一温度T下的热激活场H_f，初始t₀时刻的磁化强度M(t₀)，以及待预测永磁体器件的形状因子即可准确预测出待预测永磁体在待预测时刻t时的磁性能变化情况。

由上述本发明提供的技术方案可以看出，上述方法能准确预测永磁体长期服役过程中的性能变化情况，大大缩短磁体寿命检测时间，使新牌号或新成分永磁体能快速投入到实际应用过程中，为永磁体的应用提供准确可靠的数据支撑。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。

图1为本发明所举实例中永磁体连续在500℃的温度环境中的剩磁变化示意图；

图2为本发明实施例所述永磁体退磁量随时间的变化示意图；

图3为本发明实施例所述不同速率测量的磁体样品在500℃的磁滞回线的示意图；