[发明专利]积分相位差测量在审

专利信息
申请号: 202110410951.6 申请日: 2021-04-16
公开(公告)号: CN113533852A 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: S·迪马蒂诺;P·F·弗雷德尔 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份有限公司
主分类号: G01R25/00 分类号: G01R25/00;G01S13/06;G01S13/58;G01S13/62
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 黄倩
地址: 德国诺伊*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 积分 相位差 测量
【说明书】:

本公开的各实施例涉及积分相位差测量。一种系统可以包括第一功率检测器,用于测量第一发射器信道上的信号的功率电平;第二功率检测器,用于测量第二发射器信道上的信号的功率电平。该系统可以包括组合器,用于提供与第一发射器信道上的信号和第二发射器信道上的信号相关联的组合信号;以及第三功率检测器,用于测量组合信号的功率电平。该系统可以包括处理电路,基于测量第一发射器信道上的信号的功率电平、测量第二发射器信道上信号的功率电平、以及测量组合信号的功率电平的结果,来确定第一发射器信道上的信号与第二发射器信道上的信号之间的相对相位差。

技术领域

本公开的各实施例总体上涉及积分相位差测量。

背景技术

一种系统(诸如雷达系统)可以包括一组发射天线和一组接收天线,该发射天线被设计为发射信号,该接收天线被设计为在信号被(例如,被系统环境中的物体)反射之后接收(至少一部分)信号。该系统可以基于接收到的信号输出用于识别物体的位置、物体的方向、物体的速度等的信号。

发明内容

根据一些实现,一种系统可以包括第一功率检测器,用于测量第一发射器信道上的信号的功率电平;第二功率检测器,用于测量第二发射器信道上的信号的功率电平;组合器,用于提供与第一发射器信道上的信号和第二发射器信道上的信号相关联的组合信号;第三功率检测器,用于测量组合信号的功率电平;以及处理电路,用于确定第一发射器信道上的信号与第二发射器信道上的信号之间的相对相位差,其中相对相位差是基于测量第一发射器信道上的信号的功率电平的结果、测量第二发射器信道上信号的功率电平的结果以及测量组合信号的功率电平的结果来确定的。

根据一些实现,一种方法可以包括测量第一发射器信道上的信号的功率电平;测量第二发射器信道上的信号的功率电平;提供与第一发射器信道上的信号和第二发射器信道上的信号相关联的组合信号;测量组合信号的功率电平;以及基于测量第一发射器信道上的信号的功率电平的结果、测量第二发射器信道上信号的功率电平的结果、以及测量组合信号的功率电平的结果,确定第一发射器信道上的信号与第二发射器信道上的信号之间的相对相位差。

根据一些实现,一种系统可以包括组合器,用于提供与第一发射器信道上的信号和第二发射器信道上的信号相关联的组合信号;功率检测器,用于测量组合信号的功率电平;以及处理电路,用于确定第一发射器信道上的信号与第二发射器信道上的信号之间的相对相位差,其中相对相位差是至少部分地基于测量组合信号的测量的功率电平的结果来确定的。

附图说明

图1A至图1C是如本文所述的与执行积分相位差测量的示例系统相关联的图。

图2A和图2B是示出了如本文所述的当180°相位延迟被施加在系统的发射器信道上时,系统的相对相位差确定中可实现的误差的图形示例。

图3是如本文所述的与积分相位差测量有关的示例过程的流程图。

具体实施方式

示例实现的以下详细描述参考附图。不同附图中的相同参考标号可以标识相同或相似的元件。

在包括一组发射天线的系统中,可能需要监测和/或控制一对发射器信道之间的相位差(例如,以便确保系统的可接受性能)。例如,在包括至少两个天线(例如,发射雷达信号的相控阵列)的雷达系统中,给定的一对发射器信道(例如,与第一发射天线相关联的发射器信道和与第二发射天线相关联的发射器信道)之间的相位差应该被监测和/或控制,例如以确保雷达信号在所需的方向上发射。用于确定一对发射器信道之间的相位差的现有技术依赖于该对发射器信道上的信号的直接转换混合。然而,直接转换混合技术涉及集成混合器的使用,这可能消耗大量芯片面积和/或可能难以集成和校准。

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