[发明专利]一种环形滤波组件电性能测试性方法

说明书

本发明公开了一种环形滤波组件电性能测试性方法，它包括以下步骤：S1、常温电性能测试方法，该测试方法包括通带插损测试方法、隔离度测试方法、电压驻波比测试方法和带外抑制测试方法；S2、所述低温电性能测试方法，它包括以下步骤：S21、取用一个低温箱，将低温箱内的温度设定为‑54~‑55℃；S22、将被测件（2）放置于低温箱内，保温0.4~0.5h后取出被测件（2）；S23、重复步骤S1的操作，即可在低温条件下，测试被测件（2）的通带插损、隔离度、电压驻波比和带外抑制性能。本发明的有益效果是：能够获取环形滤波器常温电性能、低温电性能以及高温电性能、测试方法简单。

技术领域

本发明涉及对环形滤波组件性能测试的技术领域，特别是一种环形滤波组件电性能测试性方法。

背景技术

环行滤波组件由滤波器和环行器组成，其结构如图1所示，其中，环行滤波组件中的滤波器实现近端抑制的同时还具有对2次谐波抑制的功能，环行滤波组件的带宽为2~4GHz，相对带宽达67%，故滤波器选择近端由交指滤波实现滤波功能。环行滤波组件中的环行器按工作场又可分为高场和低场设计，低场设计环行器频带宽，可以达到倍频程工作带宽。环行滤波组件装配成型后，需采用设备来测试它的通带插损、隔离度、电压驻波比和带外抑制性能，但是测试时是在常温条件下进行的，因此得到的数据只是常温电性能，而并不能得到低温电性能和高温电性能，因此不能对环形滤波器进行彻底的测试，存在测试的局限性，不利于对环形滤波器的研发。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种能够获取环形滤波器常温电性能、低温电性能以及高温电性能、测试方法简单的环形滤波组件电性能测试性方法。

本发明的目的通过以下技术方案来实现：一种环形滤波组件电性能测试性方法，它包括以下步骤：

S1、常温电性能测试方法，该测试方法包括通带插损测试方法、隔离度测试方法、电压驻波比测试方法和带外抑制测试方法；

所述通带插损测试方法，它包括以下步骤：

Sa1、对矢量网络分析仪进行校准，将矢量网络分析仪的两端口分别连接于被测件的P1端口和P2端口，在被测件的P3端口处连接匹配负载；

Sa2、在矢量网络分析仪上标出Maker1：X700、Maker2：X500；

Sa3、在矢量网络分析仪上测出Marker1至Marker2之间的绝对值，其中测出的最大值即为通带插损，从而实现了通带插损的测试；

所述隔离度测试方法，它包括以下步骤：

Sb1、对矢量网络分析仪进行校准，将矢量网络分析仪的两端口分别连接于被测件的P1端口和P2端口，在被测件的P3端口处连接匹配负载；

Sb2、在矢量网络分析仪上标出Maker1：X700MHz、Marker2：X500MHz；

Sb3、在矢量网络分析仪上测出Marker1至Marker2之间的绝对值，其中测出的最小值即为通带隔离度，从而实现了隔离度的测试；

所述电压驻波比测试方法，它包括以下步骤：

Sc1、对矢量网络分析仪进行校准，将矢量网络分析仪的两端口分别连接于被测件的P1端口和P2端口，在被测件的P3端口处连接匹配负载；

Sc2、在矢量网络分析仪上标出Maker1：X700MHz、Marker2：X500MHz；

Sc3、在矢量网络分析仪上测出Marker1至Marker2之间的绝对值，其中测出的最大值即为电压驻波比，从而实现了电压驻波比的测试；

所述带外抑制测试方法，它包括以下步骤：

Sd1、对矢量网络分析仪进行校准，将矢量网络分析仪的两端口分别连接于被测件的P1端口和P2端口，在被测件的P3端口处连接匹配负载；

Sd2、在矢量网络分析仪上搜索出5.4G~10.5G频点范围的最大值；

Sd3、利用最大值的绝对值减去通带插损即可得到带外抑制，从而实现带外抑制的测试；