[发明专利]一种粉体材料表观密度的分析方法

说明书

本发明提供一种粉体材料表观密度的分析方法，所述粉体材料表观密度的分析方法用于计算粉体材料的表观密度，根据以下公式1求得粉体材料的表观密度：公式1：ED＝cf/(V_平均*N)其中，ED表示粉体材料的表观密度，V_平均表示单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积，N表示单位重量的粉体材料的颗粒总数，cf表示校正因子，可以通过激光粒度仪得到单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积V_平均以及通过相关计算得到单位重量的粉体材料的颗粒总数N。

技术领域

本发明属于物性分析检测领域，具体涉及一种粉体材料表观密度的分析方法。

背景技术

表观密度是材料的一种重要物化指标，对于形状规则的材料可以直接通过简单的测量和计算得到其表观密度。但是对于大多数粉体材料，其形状和外观通常呈现不规则状态，因此很难通过直接测量和计算得到。

目前，通常采用排液法和气体置换法等测量粉体材料的表观密度。上述方法可以测量开孔孔隙比较少的粉体材料，但是对很多开孔孔隙较多的粉体材料测量有较大的误差，所涉及的粉体材料体积只包括材料实体积和闭孔孔隙体积，无法准确的测量出粉体材料真正的表观密度(表观密度涉及的体积包括粉体材料的实体积、开孔孔隙体积和闭孔孔隙体积)，因此亟需开发一种能够测量对形状外观和孔隙状态不限制的粉体材料的表观密度。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种粉体材料表观密度的分析方法，所述粉体材料表观密度的分析方法用于计算粉体材料的表观密度，根据以下公式1求得粉体材料的表观密度：

公式1：ED＝cf/(V_平均*N)

其中，ED表示粉体材料的表观密度，V_平均表示单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积，N表示单位重量的粉体材料的颗粒总数，cf表示校正因子，通过激光粒度仪可以得到单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积V_平均以及通过相关计算得到单位重量的粉体材料的颗粒总数N。

在一种可能的实施方式中，所述校正因子cf为多次测量的所述粉体材料的标准样品的表观密度与1/(V_平均*N)之间的比值的平均数。

在一种可能的实施方式中，当所述粉体材料为形状规则和等效粒径分布范围均匀的粉体材料时，校正因子cf＝1，粉体材料中颗粒的平均体积V_平均由公式2计算所得：

公式2：ED＝1/(V_平均*N)

其中，ED表示粉体材料的表观密度，V_平均表示单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积，N表示单位重量的粉体材料的颗粒总数。

在一种可能的实施方式中，单位重量的粉体材料中颗粒的平均体积V_平均由公式3计算所得：

公式3：V_平均＝π(D_体积)³/6

其中，D_体积表示单位重量的粉体材料中颗粒的体积加权平均粒径，π表示圆周率。

在一种可能的实施方式中，单位重量的粉体材料的体积加权平均粒径D_体积由所述激光粒度仪直接测量得到，或，单位重量的粉体材料的体积加权平均粒径D_体积为所有颗粒的粒径乘以它的体积并求和，随后除以所有颗粒的总体积值计算得到。

在一种可能的实施方式中，粉体材料的颗粒总数N由公式4计算所得：

公式4：N＝SSA/S_平均

其中，SSA表示单位重量的粉体材料颗粒外表面的总比表面积，S_平均表示单位重量的粉体材料中颗粒的平均表面积。