[发明专利]用于高层建筑测量放样的仪器支架及其使用方法

权利要求书

1.一种用于高层建筑测量放样的仪器支架，其特征在于，包括：

第一杆件，所述第一杆件的第一侧上部固定有连接支杆，所述连接支杆上远离所述第一杆件的一端设有用于转动连接至已有构件的第一铰接件，所述第一杆件的第一侧下部滑动装设有平行于所述连接支杆的调节支杆，所述调节支杆的长度大于所述连接支杆的长度，所述调节支杆远离所述第一杆件一端为圆弧状，所述调节支杆上设有限制所述调节支杆滑动的第二锁定件；

用于装设仪器的第二杆件，所述第二杆件的第一端铰接至所述第一杆件上与所述第一侧相对的第二侧、并与所述第一杆件之间形成一可变夹角；

用于锁定所述可变夹角的角度的紧固件，所述紧固件连接于所述第一杆件和所述第二杆件之间；

已有构件上设有供连接支杆连接的锚件；

所述第一杆件、所述第二杆件和所述紧固件的数量均为两根，两根所述第一杆件通过固定杆平行固定，两根所述第一杆件、所述第二杆件和所述紧固件一一对应连接，两根所述第二杆件之间滑动装设有供所述仪器装设的托架。

2.根据权利要求1所述的用于高层建筑测量放样的仪器支架，其特征在于，所述紧固件为二连杆，所述二连杆一端铰接至所述第一杆件上、另一端铰接至所述第二杆件上，所述二连杆上设有用于限制所述二连杆转动的第一锁定件。

3.根据权利要求1所述的用于高层建筑测量放样的仪器支架，其特征在于，所述托架包括：

U型框，所述U型框滑动设于两根所述第二杆件之间，且所述U型框的内侧设有供所述仪器的光靶插设的插槽；

多根支撑杆，多根所述支撑杆的第一端分散固定于所述U型框上，多根所述支撑杆的第二端相对聚拢并共同固定有一底座，所述底座上开设有供所述仪器测量的测量孔，所述测量孔的位置与插设后所述仪器的光靶的位置相对。

4.根据权利要求1所述的用于高层建筑测量放样的仪器支架，其特征在于，所述第一杆件上固定有用于测量所述第二杆件水平度的角度尺。

5.一种用于高层建筑测量放样的仪器支架的使用方法，其特征在于，包括如下步骤：

提供如权利要求1所述的用于高层建筑测量放样的仪器支架；

将连接支杆转动连接至已有构件上；

将第二杆件相对于第一杆件转动，以调节所述可变夹角至一定角度后通过紧固件锁定，沿所述第一杆件滑动调节支杆，直至所述第二杆件呈水平状态时停止滑动所述调节支杆；

于所述第二杆件上装设仪器，利用所述仪器进行测量放样；

于所述第二杆件上装设仪器时，将所述仪器装设于所述托架上，滑动所述托架，使所述仪器位于待测量位置后进行测量放样。

6.根据权利要求5所述的用于高层建筑测量放样的仪器支架的使用方法，其特征在于，所述托架包括：

U型框，所述U型框滑动设于两根所述第二杆件之间，且所述U型框的内侧设有插槽；

多根支撑杆，多根所述支撑杆的第一端分散固定于所述U型框上，多根所述支撑杆的第二端相对聚拢并共同固定有一底座，所述底座上开设有测量孔，所述测量孔的位置与插设后所述仪器的光靶的位置相对；

在所述第二杆件上装设仪器时，将仪器装设于所述底座上，将所述仪器的光靶插入所述插槽内，滑动所述U型框，使所述仪器的光靶正对地面的基准点，利用所述仪器通过所述测量孔进行测量放样。