[发明专利]原位双倾单轴拉伸纳米线装置及其制作方法

权利要求书

1.一种原位双倾单轴拉伸纳米线装置，其特征在于，包括：

金属环(1)，所述金属环(1)的内侧壁上设置有平台(2)；

金属片组(3)，两组所述金属片组(3)平行间隔设置在所述金属环(1)的内部，并且各组所述金属片组(3)的一端均固定在所述平台(2)上，各组所述金属片组(3)的另一端均为自由端，每组所述金属片组(3)均包括一个第一金属片(4)以及与所述第一金属片(4)固定贴合的第二金属片(5)，两组所述金属片组(3)中的所述第一金属片(4)相互靠近，并且所述第一金属片(4)的热膨胀系数大于所述第二金属片(5)的热膨胀系数；

固定件，所述固定件包括两个固定底座(6)以及将两个所述固定底座(6)连接在一起的纳米线(7)，所述固定件将两组所述金属片组(3)的自由端连接在一起；

两个所述固定底座(6)与两组所述金属片组(3)一一对应设置，并且各个所述固定底座(6)均垂直固定连接在相对应的所述金属片组(3)上，并且两个所述固定底座(6)在相互靠近的一端均设置为具有梯度的梯形结构(8)；

所述纳米线(7)以及所述纳米线(7)两端的两个所述固定底座(6)为一体式结构；

所述金属片组(3)的长度为1mm-1.2mm，两组所述金属片组(3)之间的间距为100μm-150μm。

2.根据权利要求1所述的原位双倾单轴拉伸纳米线装置，其特征在于，所述第一金属片(4)的材质为锰。

3.根据权利要求1所述的原位双倾单轴拉伸纳米线装置，其特征在于，所述第二金属片(5)的材质为镍。

4.根据权利要求1所述的原位双倾单轴拉伸纳米线装置，其特征在于，所述金属环(1)的材质为钼。

5.根据权利要求1所述的原位双倾单轴拉伸纳米线装置，其特征在于，所述金属环(1)的外径为2mm-4mm，内径为1mm-3mm，厚度为30μm-50μm。

6.根据权利要求1所述的原位双倾单轴拉伸纳米线装置，其特征在于，所述固定件的长度为200μm-300μm，厚度为3μm-5μm，宽度为100μm-200μm。

7.一种原位双倾单轴拉伸纳米线装置的制作方法，基于权利要求1-6任意一项所述的原位双倾单轴拉伸纳米线装置，其具体步骤为：

a.将两片热膨胀系数不同的第一金属片(4)与第二金属片(5)通过焊压贴合在一起，从而得到两组焊压贴合好的金属片组(3)；

b.将两组焊压贴合好的所述金属片组(3)平行间隔焊接固定在金属环(1)内部的平台(2)上；

c.运用聚焦离子束技术，从块体材料上加工出固定底座(6)以及所述固定底座(6)上具有梯度的梯形结构(8)，并且将所述梯形结构(8)的表面进行抛光处理；

d运用聚焦离子束技术与纳米减薄仪结合，从所述梯形结构(8)中加工出用于变形的纳米线(7)，并将所述纳米线(7)加工成进行原子尺度观察的样品；

e.所述固定底座(6)在聚焦离子束系统中沉积出Pt-碳混合物，并将其垂直焊接在所述金属片组(3)的自由端上。