[发明专利]一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法、装置有效
申请号: | 202110431688.9 | 申请日: | 2021-04-21 |
公开(公告)号: | CN112991334B | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
发明(设计)人: | 别晓辉;徐盼盼;别伟成;单书畅 | 申请(专利权)人: | 视睿(杭州)信息科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/66;G06T7/73;G06T3/40;G06K9/38 |
代理公司: | 杭州华知专利事务所(普通合伙) 33235 | 代理人: | 张德宝 |
地址: | 310000 浙江省杭州市余杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 面向 工业 颗粒 连片 制品 全局 定位 方法 装置 | ||
1.一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法,其特征在于,所述方法包括:
获取多张工业颗粒连片制品分割图像;
根据所述工业颗粒连片制品分割图像,计算每个颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息;
对多张所述工业颗粒连片制品分割图像进行拼接,获得工业颗粒连片制品全局图像;所述工业颗粒连片制品全局图像包括所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息;
根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息,以及所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息,计算所述颗粒在所述工业颗粒连片制品全局图像的定位信息;
其中,所述对多张所述工业颗粒连片制品分割图像进行拼接,获得工业颗粒连片制品全局图像,包括:
获取前一相邻工业颗粒连片制品分割图像的像素宽度和像素高度;
根据所述像素宽度和像素高度计和预设重叠区域的重叠宽度和重叠长度,计算当前工业颗粒连片制品分割图像的边缘角在所述工业颗粒连片制品全局图像的像素坐标;
根据所述边缘角在所述工业颗粒连片制品全局图像的像素坐标,确定所述当前工业颗粒连片制品分割图像的拼接位置;
将所述当前工业颗粒连片制品分割图像平移到所述拼接位置;
根据所述工业颗粒连片制品全局图像包括所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息,重复获取前一相邻工业颗粒连片制品分割图像的像素宽度和像素高度,根据所述像素宽度和像素高度计和预设重叠区域的重叠宽度和重叠长度,计算当前工业颗粒连片制品分割图像的边缘角在所述工业颗粒连片制品全局图像的像素坐标,根据所述边缘角在所述工业颗粒连片制品全局图像的像素坐标,确定所述当前工业颗粒连片制品分割图像的拼接位置,将所述当前工业颗粒连片制品分割图像平移到所述拼接位置的步骤,直到所有所述工业颗粒连片制品分割图像平移到拼接位置,获得工业颗粒连片制品全局图像。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述工业颗粒连片制品分割图像,计算每个颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息,包括:
将所述工业颗粒连片制品分割图像进行二值化,获得二值工业颗粒连片制品分割图像;
根据所述二值工业颗粒连片制品分割图像进行边缘检测,获得工业颗粒连片制品目标图像;
计算所述工业颗粒连片制品目标图像的中心的像素坐标,得到所述工业颗粒连片制品目标图像在所述二值工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标;
其中,所述工业颗粒连片制品目标图像在所述二值工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标与颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标相同。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述二值工业颗粒连片制品分割图像进行边缘检测,获得工业颗粒连片制品目标图像,包括:
根据所述二值工业颗粒连片制品分割图像进行边缘检测,获得边缘目标图像;
判断所述边缘目标图像的尺寸是否在预设范围内;
如果所述边缘目标图像的尺寸在预设范围内,则所述边缘目标图像为工业颗粒连片制品目标图像。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在计算所述工业颗粒连片制品目标图像的中心的像素坐标,得到所述工业颗粒连片制品目标图像在所述二值工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标之后,包括:
根据任意相邻的两个所述工业颗粒连片制品目标图像的中心距离计算参考距离;
将已知行列值的任一所述工业颗粒连片制品目标图像确定为参考目标图像;
判断在所述参考目标图像的邻域范围内的未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像,与所述参考目标图像的中心距离是否小于所述参考距离;
在与所述参考目标图像的中心距离小于所述参考距离时,根据所述参考目标图像的行列值,计算所述未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像的行列值。
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