[发明专利]一种基于扫频筛选的柔性阵列电极通断检测方法在审
申请号: | 202110438579.X | 申请日: | 2021-04-22 |
公开(公告)号: | CN113093061A | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
发明(设计)人: | 胡源渊;张利剑;贾正伟 | 申请(专利权)人: | 北京机械设备研究所 |
主分类号: | G01R31/54 | 分类号: | G01R31/54 |
代理公司: | 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙) 11535 | 代理人: | 梁田 |
地址: | 100039 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 筛选 柔性 阵列 电极 检测 方法 | ||
1.一种基于扫频筛选的柔性阵列电极通断检测方法,其特征在于:所述方法基于以下装置实现,所述装置包括:柔性阵列电极、阵列选择开关和通断检测电路;
其中,所述柔性阵列电极由同一平面上并排设置的阵列电极1和阵列电极2组成,每个阵列电极上均设置具有相同分布形式的若干独立电极点;
每个电极点分别独立与阵列选择开关的一个开关输入端连接,阵列选择开关的所有开关输出端分别与通断检测电路的输入端连接;所述的通断检测电路用于检测各个电极间的阻抗大小,并可根据阻抗大小自由选择闭合或者断开阵列选择开关的任意一路开关;
针对所述装置执行依次执行以下检测步骤:
步骤一、利用肌电采集模块从阵列电极1的第一个电极点开始作为输入点,依次测量与阵列电极1中的其他电极点间的接触阻抗,以最先测得输入阻抗低于第一预定值的两点中的任意一点作为系统总测试点;
步骤二、以所述系统总测试点为输入,分别在两个阵列电极的其他所有电极点端计算出与所述系统总测试点间的接触阻抗,若阻抗低于所述第一预定值则该电极点为有效接触点,若阻抗高于所述预定值则该电极点为无效接触点。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:待所有电极点均测试完后,将无效接触点与肌电采集模块间的连接线路断开,确保无效接触点能完全隔离,从而有效屏蔽无效接触点引入的噪声干扰。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述的阵列电极和2均由柔性4*4阵列电极组成,柔性4*4阵列电极由直径4mm的16个圆形镀金电极点以4*4的阵列组成,相邻两个电极间的边沿间距为1.6mm,且任意两电极点间不导通。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述的阵列选择开关由32路独立的单路开关组成,每一路导通电阻不超过第二预定值。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于:每隔一个固定的时间周期,重复一次上述检测步骤,隔离出无效接触点后对有效接触点进行耦合差分采集,以确保实时肌电信号采集的精确性。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述第一预定值为10kΩ,所述第二预定值为1Ω。
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