[发明专利]分析支援装置、分析支援方法及计算机可读取的存储介质在审
申请号: | 202110439368.8 | 申请日: | 2021-04-23 |
公开(公告)号: | CN113588853A | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 渡辺覚 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N30/86 | 分类号: | G01N30/86 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 薛恒;徐川 |
地址: | 日本京都府京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分析 支援 装置 方法 计算机 读取 存储 介质 | ||
1.一种分析支援装置,包括:
推定部,使用给予至分析装置的多个分析条件数据、及基于所述多个分析条件数据而由所述分析装置获得的多个测定数据,对测定品质指标数据的分布进行推定;以及
测定品质指标显示部,将所述测定品质指标数据成为规定的阈值以上的区域作为设计空间来显示,且
所述测定品质指标显示部通过在所述测定品质指标数据的分布区域中,切取所述设计空间以外的区域的至少一部分,而将所述设计空间的区域放大显示。
2.根据权利要求1所述的分析支援装置,其中,
所述测定品质指标显示部在所述设计空间的显示区域中,与所述测定品质指标数据的变化率低的区域相比,将所述测定品质指标数据的变化率高的区域放大显示。
3.根据权利要求1或2所述的分析支援装置,其中,
所述分析装置包括色谱仪,
所述测定品质指标数据包含在所述色谱仪中所分析的各成分的分离度数据。
4.一种分析支援方法,包括:
推定工序,使用给予至分析装置的多个分析条件数据、及基于所述多个分析条件数据而由所述分析装置获得的多个测定数据,对测定品质指标数据的分布进行推定;以及
测定品质指标显示工序,将所述测定品质指标数据成为规定的阈值以上的区域作为设计空间来显示,且
所述测定品质指标显示工序通过在所述测定品质指标数据的分布区域中,切取所述设计空间以外的区域的至少一部分,而将所述设计空间的区域放大显示。
5.一种计算机可读取的存储介质,记录了使计算机执行以下处理的分析支援程序:
使用给予至分析装置的多个分析条件数据、及基于所述多个分析条件数据而由所述分析装置获得的多个测定数据,对测定品质指标数据的分布进行推定;以及
将所述测定品质指标数据成为规定的阈值以上的区域作为设计空间来显示,通过在所述测定品质指标数据的分布区域中,切取所述设计空间以外的区域的至少一部分,而将所述设计空间的区域放大显示。
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