[发明专利]对象测试方法、对象测试装置、电子设备及可读存储介质

说明书

本公开提供了一种对象测试方法，可用于计算机技术领域或其他领域。该方法包括：获取与待测试对象中功能相关联的代码数据，其中，待测试对象中包括多个功能，每个功能具有相关联的代码数据；对代码数据进行处理，得到多个与功能相关联的函数信息以及每个与功能相关联的函数信息和与其他功能相关联的函数信息之间的关联关系；根据函数信息和关联关系构建待测试对象的测试模型，其中，函数信息与测试模型的节点一一对应；利用测试模型对待测试对象进行测试，输出测试结果。本公开还提供了一种对象测试装置、电子设备、可读存储介质及计算机程序产品。

技术领域

本公开涉及计算机技术领域，更具体地，涉及一种对象测试方法、对象测试装置、电子设备、可读存储介质及计算机程序产品。

背景技术

在企业管理中，随着系统规模的不断扩大，存量代码的不断累加。目前针对系统中自动进行故障监测和诊断的方法为根据长期的时间经验和大量的故障信息知识，通过针对对象实际输入与输出之间的不一致，生成引起这种不一致的原因集合，从原因集合中分析寻找学习诊断出故障原因，或者根据输入域的值提前预测故障原因。

在实现本公开构思的过程中，发明人发现相关技术中至少存在如下问题：只有当故障发生时，或即将发生时才进行故障检查，缺少对系统进行实时守护的能力；过于依赖已有的故障信息知识，对增量的故障没有诊断能力；并且仅能诊断大致问题原因，无法精准定位问题发生的位置。

发明内容

有鉴于此，本公开提供了一种对象测试方法、对象测试装置、电子设备、可读存储介质及计算机程序产品。

本公开的一个方面提供了一种对象测试方法，包括：

获取与待测试对象中功能相关联的代码数据，其中，所述待测试对象中包括多个功能，每个所述功能具有相关联的代码数据；

对所述代码数据进行处理，得到多个与所述功能相关联的函数信息以及每个与所述功能相关联的函数信息和与其他所述功能相关联的函数信息之间的关联关系；

根据所述函数信息和所述关联关系构建所述待测试对象的测试模型，其中，所述函数信息与所述测试模型的节点一一对应；

利用所述测试模型对所述待测试对象进行测试，输出测试结果。

根据本公开的实施例，所述获取与待测试对象中功能相关联的代码数据包括：

获取所述待测试对象的功能信息；以及

对所述功能信息进行处理，得到与所述功能相关联的所述代码数据。

根据本公开的实施例，所述对所述代码数据进行处理，得到多个与所述功能相关联的函数信息以及每个与所述功能相关联的函数信息和与其他所述功能相关联的函数信息之间的关联关系包括：

根据函数特征模板对所述代码数据进行特征提取，输出多个所述函数信息，其中，所述函数特征模板包括：函数类型、方法名、参数类型、参数名和方法体；

根据每个所述函数信息的调用关系，得到每个与所述功能相关联的函数信息和与其他所述功能相关联的函数信息之间的关联关系。

根据本公开的实施例，所述根据所述函数信息和所述关联关系构建所述待测试对象的测试模型包括：

以所述函数信息作为节点，根据所述关联关系构建初始测试模型；

通过动态规划的方法对所述初始测试模型进行训练，得到最终的所述测试模型。

根据本公开的实施例，所述通过动态规划的方法对所述初始测试模型进行训练包括：

将训练数据输入所述初始测试模型，输出真实输出值；