[发明专利]一种测量双反射面天线馈源网络损耗的方法有效
| 申请号： | 202110445617.4 | 申请日： | 2021-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN113206711B | 公开（公告）日： | 2022-06-10 |
| 发明（设计）人： | 秦顺友;陈辉 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 河北东尚律师事务所 13124 | 代理人： | 王文庆 |
| 地址： | 050081 河北省石家*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测量 反射 天线 馈源 网络 损耗 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种测量双反射面天线馈源网络损耗的方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)建立测试系统，测试系统包括双反射面天线的安装座架、主反射面、馈源网络、低噪声放大器以及频谱分析仪，馈源网络、低噪声放大器、频谱分析仪顺次连接；
(2)在没有安装双反射面天线副反射面的情况下，将主反射面指向晴空天顶方向，通过馈源网络接收晴空背景噪声，用频谱分析仪测量得到系统输出的归一化噪声功率N0，单位为dBm/Hz；
(3)根据归一化噪声功率，利用下式计算馈源网络损耗：
式中，IL—馈源网络损耗，单位dB；
Tsky—天空噪声温度，单位K；
T0—馈源网络的物理温度，单位K；
TLNA—低噪声放大器的噪声温度，单位K；
GLNA—低噪声放大器的增益，单位dB；
LRF—低噪声放大器和频谱分析仪之间的射频电缆损耗，单位dB；
完成双反射面天线馈源网络损耗的测量。
2.根据权利要求1所述的一种测量双反射面天线馈源网络损耗的方法，其特征在于，所述低噪声放大器的增益和噪声温度精确已知，低噪声放大器与馈源网络直接连接，低噪声放大器输入端口和馈源网络输出端口匹配。
3.根据权利要求1或2所述的一种测量双反射面天线馈源网络损耗的方法，其特征在于，所述低噪声放大器与所述频谱分析仪之间通过稳幅稳相低损耗的射频电缆连接。
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