[发明专利]一种铝箔/反射膜于碘化铯平板探测器中的应用

说明书

本发明提供一种铝箔/反射膜于碘化铯平板探测器中的应用。所述铝箔/反射膜包括第一PET层，位于第一PET层下方的第一胶水层，位于第一胶水层下方的铝箔层，位于铝箔层下方的第二胶水层，位于第二胶水层下方的PET层，位于第二PET层下方的离型膜层。本申请的铝箔/反射膜防水性能、反射性能均具有较高的稳定性，反射率可稳定达98％以上，可有效降低平板探测器整体产品总成本以及降低碘化铯和碘化铊使用剂量，因而有效降低人体在使用整机设备时承受的辐射危害。克服了现有技术中碘化铯平板探测器封装膜因生产工艺原因导致反射率不稳定(反射率只有93％左右)的问题，本结构发明可大大改善稳定性并提高良率。且本申请的铝箔/反射膜制备简单，结构简单，易于生产和使用储存。

技术领域

本申请涉及一种铝箔/反射膜于碘化铯平板探测器中的应用，属于光反射应用领域。

背景技术

碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强但成本比较高，将碘化铯加工成柱状结构，可以进一步提高捕获X线的能力，并减少散射光。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速率快，性能稳定，成本较低，但是转换效率不如碘化铯涂层高。其次将闪烁体产生的可见光转换成电信号的方式也会产生影响。在碘化铯(或者硫氧化钆)薄膜晶体管(TFT)这种结构的平板探测器中，因为TFT的阵列可以做成与闪烁体涂层的面积一样大，所以可见光不需要经过透镜折射就可以投射到TFT上，中间没有光子损失，碘化铯可广泛的应用于探测器中。但是，现有技术中，用于平板探测器中的薄膜反射率较低，稳定性也较低。因此，如何提供一种具有有高反射率、高稳定性薄膜是一个亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种铝箔/反射膜于碘化铯平板探测器中的应用，以克服现有技术中屏蔽膜的反射率不稳定，反射率较低的不足。

为实现前述发明目的，本发明采用的技术方案包括：

所述一种铝箔/反射膜于碘化铯平板探测器中的应用。

可选地，所述铝箔/反射膜包括第一PET层，位于第一PET层下方的第一胶水层，位于第一胶水层下方的铝箔层，位于铝箔层下方的第二胶水层，位于第二胶水层下方的PET层，位于第二PET层下方的离型膜层。

可选地，所述第一PET层的厚度为25um-50um。

可选地，所述第一PET层的厚度为25um。

可选地，所述第一PET层的厚度为30um。

可选地，所述第一PET层的厚度为40um。

可选地，所述第一PET层的厚度为45um。

可选地，所述第一PET层的厚度为50um。

可选地，所述第一PET层的耐温温度为100℃以上。

可选地，所述第一PET层的耐温温度为150℃。

可选地，所述第一PET层的耐温温度为200℃。

可选地，所述第一胶水层为耐温胶水。

可选地，所述第一胶水层的厚度为1-10um。

可选地，所述第一胶水层的厚度为1um。

可选地，所述第一胶水层的厚度为5um。

可选地，所述第一胶水层的厚度为10um。

可选地，所述铝箔层中铝的纯度为99.90％-99.99％。

可选地，所述铝箔层的厚度为20um-25um。

可选地，所述铝箔层的厚度为20um。

可选地，所述铝箔层的厚度为25um。